Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

В текущей базе данных найдено документов :17

В других БД по вашему запросу найдено:

Электронный каталог (8)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>KL=оптическая микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 17
Показаны документы с 1 по 17

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 535965
681.4/Д 95
Автор(ы) : Дюков, Валентин Георгиевич, Кудеяров, Юрий Алексеевич
Заглавие : Растровая оптическая микроскопия : научное издание
Выходные данные : Москва: Наука, 1992
Колич.характеристики :208 с.: ил.
Серия: Современные физико-технические проблемы
Примечания : Библиогр.
ISBN, Цена 5-02-014374-X: 42.00 р.
УДК : 681.723.2
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы--оптическая микроскопия--растровые оптические микроскопы
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 593221
621.385.833681.4/М 64
Автор(ы) : Миронов В. Л.
Заглавие : Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2004
Колич.характеристики :143, [1] с.: цв.ил
Коллективы : Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород
Серия: Мир физики и техники
Примечания : Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.)
ISBN (в пер.), Цена 5-94836-034-2: 153.32 р.
УДК : 621.385.833(075.8) + 681.723.2(075.8)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия--микроскопы--сканирующая туннельная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--оптическая микроскопия
Аннотация: Пособие охватывает всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов.
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 102320
621.385.833681.4/М 64
Автор(ы) : Миронов В. Л.
Заглавие : Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2005
Колич.характеристики :143, [1] с.: ил.
Коллективы : Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород
Серия: Мир физики и техники
Примечания : Библиогр.: с. 140-143
ISBN (в пер.), Цена 5-94836-034-2: 167.00 р.
УДК : 621.385.833(075.8) + 681.723.2(075.8)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия--микроскопы--сканирующая туннельная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--оптическая микроскопия
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 429577
Автор(ы) : Kaupp, Gerd
Заглавие : Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Electronic resource] : научное издание
Выходные данные : Berlin; Heidelberg: Springer, 2006?
Колич.характеристики :1 эл. опт. диск (CD-ROM)
Серия: NanoScience and Technology .
Springer eBook Collection
Вид и объем ресурса: Электрон. текстовые дан.
ISBN (в кор.), Цена 9783540284727: 630.00 р.
УДК : 621.385.833(0.034.4) + 681.723.2(0.034.4)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы--атомно-силовая микроскопия(асм)--сканирующая туннельная микроскопия--оптическая микроскопия--нанотехнологии--наноцарапины
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 296450
Заглавие : Методы и средства микроскопии : метод. указания
Выходные данные : Екатеринбург: Изд-во УМЦ УПИ, 2005
Колич.характеристики :187, [1] с.: ил.
Коллективы : ГОУ ВПО "Уральский государственный технический университет - УПИ"
Примечания : Библиогр.: с. 186-187 (25 назв.)
ISBN, Цена [Б. и.]: 65.00 р.
УДК : 681.723.2(072.8) + 620.22(072.8)
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопия--микроскопы--оптическая микроскопия--электронная микроскопия--зондовая микроскопия --обработка изображений--наночастицы--биологические объекты
Найти похожие

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 577.32(075.8)
Автор(ы) : Сердюк, Игорь
Заглавие : Методы в молекулярной биофизике. Структура. Функция. Динамика: учебное пособие : в 2 т./ И. Сердюк, Н. Заккаи, Дж. Заккаи ; [науч. ред. И. Сердюк]. Т. 2
Выходные данные : Москва: КДУ: Благотворительный фонд "Вольное дело": Компания "Базовый элемент", 2010
Колич.характеристики :734, [2] с.: цв. ил
Серия:
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN (в пер.), Цена 978-5-98227-454-0: 1339.00 р.
УДК : 577.32(075.8)
Предметные рубрики: биология-- биофизика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): молекулярная биофизика--биологические макромолекулы--молекулярная биология--оптическая микроскопия--рентгеновская дифракция--нейтронная дифракция--электронная дифракция--спектроскопия--молекулярная динамика--ядерный магнитный резонанс (ямр)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.7/О-62
Автор(ы) : Антосяк В. Г., Маковейчук Г. Е., Плахотников О. И., Шистик Л. Н.
Заглавие : Опыт применения электрических разрядов в обработке металлов
Выходные данные : Кишинев: Штиинца, 1983
Колич.характеристики :124 с.: ил.; 21 см
Коллективы : Кишиневский политехн. ин-т
Цена : 1.20 р.
ГРНТИ : 55.20
УДК : 621.7/9.047/048
Предметные рубрики: Обработка материалов-- Электрические методы обработки
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронно-зондовые системы--рентгенографические системы--обработка материалов--обработка металлов--электрообработка--электроразрядная обработка--оптическая микроскопия--лазерный микроанализ--плазма--волновые процессы--поперечные волны--разрядная плазма--дуговой разряд--периодические разряды--диагностика плазмы
Аннотация: Рассматриваются вопросы, связанные с изучением состояния плазмы и методами ее диагностики. Описываются современные методы и оборудование для проведения комплексного исследования и контроля материалов, подвергшихся электроразрядной обработке, в частности оптическая микроскопия, лазерный микроанализ, электронно-зондовые и рентгенографические системы, приборы акустической эмиссии.
Найти похожие

Вид документа : Продолжающееся издание
Шифр издания : 669/Ф 50
Автор(ы) :
Заглавие : Физическое металловедение: Атомное строение металлов и сплавов; Пер. с англ./ Р. У. Кан, П. Хаазен, Хаазен П. Т.1
Выходные данные : М.: Металлургия, 1987
Колич.характеристики :639 с. ; 22 см
Цена : 6.40 р.
ГРНТИ : 53.49
УДК : 669.017+669.53
Предметные рубрики: Металлургия-- Металловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): металловедение--металлургия--физическое металловедение--оптическая микроскопия--стереомикроскопия--фотоэлектроны--микроструктура сплавов--магнетизм--сверхпроводимость
Аннотация: Изложены физические основы теории металлического состояния.
Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.7/А 81
Автор(ы) : Аристова Н. А., Колобнев И. Ф.
Заглавие : Термическая обработка литейных алюминиевых сплавов : научное издание
Выходные данные : М.: Металлургия, 1977
Колич.характеристики :144 с.: ил., табл., рис.; 20 см
Цена : 0.40 р.
ГРНТИ : 55.21
УДК : 621.78:669.715
Предметные рубрики: Обработка материалов-- Термическая обработка
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): структура сплавов--оптическая микроскопия--электронная микроскопия--ультрафиолетовая микроскопия--рентгеновская теневая микроскопия--алюминиевые сплавы
Аннотация: Даны справочные сведения по технологии термической обработки литейных алюминиевых сплавов и лабораторных исследований их структуры и свойств.
Найти похожие

11.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.2(075)/Б 87
Автор(ы) : Брандон Д. , Каплан У.
Заглавие : Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие
Выходные данные : М.: Техносфера, 2006
Колич.характеристики :384 с.: ил.; 24 см
Серия: Мир материалов и технологий
Параллельные издания: Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля/ Д. Брандон, У. Каплан. - М.: Техносфера, 2006. - 1эл. опт. диск (CD-ROM). - ISBN 5-94836-018-0 (Шифр 620.2(075)/Б87)
Примечания : Гриф: рек. Ин-том химич. физики РАН в качестве учеб. пособия для студ., обуч. по напр. подг. "Прикладные математика и физика" Имеется электронный аналог печатного издания
ISBN, Цена 5-94836-018-0: 160.00 р.
ГРНТИ : 81.09.01.33
УДК : 620.22(075)
ББК : 30.3
Предметные рубрики: Материаловедение-- Микроанализ материалов
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроанализаторы--оптическая микроскопия--электронная микроскопия--электронные микроскопы--микроструктура--кристаллическая структура
Аннотация: Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.
Найти похожие

12.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.2(075)/Б 87
Автор(ы) : Брандон Д. , Каплан У.
Заглавие : Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Электронный ресурс] : учеб. пособие
Выходные данные : М.: Техносфера, 2006
Колич.характеристики :1 эл. опт. диск (CD-ROM)
Параллельные издания: Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учеб. пособие/ Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. - М.: Техносфера, 2006. - 384 с: ил. - ISBN 5-94836-018-0 (Шифр 620.2(075)/Б87)
Вид и объем ресурса: Электрон. текстовые дан.
Примечания : Электронный аналог печатного изданияДиски помещены в контейнер 13Х13 смРежим доступа: http://lib.sstu.ru/books/Ld_110.pdf. - Загл. с контейнера
Цена : Б.ц.
ГРНТИ : 81.09.01.33
УДК : 620.22(075)
ББК : 30.3
Предметные рубрики: Материаловедение-- Микроанализ материалов
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроанализаторы--оптическая микроскопия--электронная микроскопия--электронные микроскопы--микроструктура--кристаллическая структура
Аннотация: Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.

Найти похожие

13.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.1/К 47
Автор(ы) : Кларк Э. Р., Эберхардт К. Н.
Заглавие : Микроскопические методы исследования материалов [Электронный ресурс] : научное издание
Выходные данные : М.: Техносфера, 2007
Колич.характеристики :1 эл. опт. диск (CD-ROM)
Параллельные издания: Кларк Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов/ Э. Р. Кларк , К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженова. - М.: Техносфера, 2007. - 376 с: ил. - ISBN 978-5-94836-121-5 (Шифр 620.1/К47)
Вид и объем ресурса: Электрон. текстовые дан.
Примечания : Электронный аналог печатного изданияДиски помещены в контейнер 13Х13смРежим доступа: http://lib.sstu.ru/books/Ld_114.pdf. - Загл. с контейнера
Цена : Б.ц.
ГРНТИ : 81.01
УДК : 620.1
ББК : 30.3
Предметные рубрики: Испытания материалов-- Исследования материалов
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--оптическая микроскопия--интерференционная микроскопия--конструкционные материалы--двумерное изображение--цифровое изображение--композиты--зондовая микроскопия
Аннотация: В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические - например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов.

Найти похожие

14.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 669/С 51
Автор(ы) : Смолмен Р., Ашби К.
Заглавие : Современная металлография : научное издание
Параллельн. заглавия :Modern metallography/ R. Smallman; K. Ashbee
Выходные данные : М.: Атомиздат, 1970
Колич.характеристики :208 с.: ил.; 20 см
Примечания : Тит. л. парал. на англ. яз.
Цена : 2.17 р.
ГРНТИ : 53.49
УДК : 669:539.2
Предметные рубрики: Металлургия-- Металловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): оптическая микроскопия--высокотемпературная микроскопия--поверхностная топография--поляризационная микроскопия--рентгенография металлов--электронный микроскоп--теория контраста--атомные дефекты--кристаллическая решетка
Аннотация: В книге, написанной известными специалистами в области физики металлов, рассмотрены различные дефекты в кристаллических телах, от которых в основном зависит поведение материалов в определенных условиях. Изложены методы металлографического анализа. Приведены сведения об оптических микроскопах.
Найти похожие

15.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 541/Г 75
Автор(ы) : Градус Л. Я.
Заглавие : Руководство по дисперсионному анализу методом микроскопии : научное издание
Выходные данные : M.: Химия, 1979
Колич.характеристики :232 с.: граф., рис., табл.; 20 см
Примечания : Библиогр.: с. 230-232
Цена : 0.60 р.
ГРНТИ : 31.15
УДК : 541.182
Предметные рубрики: Химия-- Физическая химия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дисперсионный анализ--оптическая микроскопия--частицы аэрозолей--типы микроскопов--частицы порошка--приготовление препаратов
Аннотация: Изложены основные сведения, необходимые для проведения дисперсионного анализа частиц аэрозолей и порошков методом микроскопии. Рассмотрена техника приготовления препаратов из частиц, способы их изучения и применяемая для этой цели аппаратура, вспомогательные приборы и принадлежности.
Найти похожие

16.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 61/Ф 76
Автор(ы) : Фомин А. А.
Заглавие : Плазменно-индукционное напыление покрытий дентальных имплантатов : микроструктура и механические свойства : монография
Выходные данные : Saarbrucken: LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011
Колич.характеристики :151 с.: ил.; 22 см
Примечания : Библиогр.: с. 133-150 (173 назв.)
ISBN, Цена 978-3-8443-5251-1: 50.00 р.
ГРНТИ : 76.29.55 + 81.35.33
УДК : 616.3:621.793
ББК : 56.6 + 30.61
Предметные рубрики: Медицина-- Клиническая медицина
Обработка материалов-- Напыление
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): имплантаты--детальные имплантаты--напыление покрытий--плазменно-индукционное напыление--медико-технические изделия--биосовместимые покрытия--биохимическая совместимость--плазменное напыление--индукционный нагрев--оптическая микроскопия--рентгенофазовый анализ--микроструктура--механические свойства--микротвердость--профилометрия
Аннотация: В данной монографии рассматривается технология нанесения биосовместимых покрытий медико-технических изделий с помощью нового плазменно-индукционного метода, решается проблема повышения уровня биомеханической совместимости покрытий дентальных имплантатов. Теоретическая часть включает использование основных положений теории плазменного напыления и индукционного нагрева. Свойства покрытий изучались методами рентгенофазового анализа, оптической микроскопии, профилометрии, измерения микротвердости и прочности при срезе. Новизна полученных данных заключается в предложенной модели прочности сцепления покрытия с основой, учитывающей влияние ее индукционно-термической активации и дистанции плазменного напыления. Установлены закономерности влияния температуры предварительного индукционного нагрева основы и дистанции напыления на фазово-структурное состояние и механические свойства покрытий имплантатов.
Найти похожие

17.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 34.2
Автор(ы) : Геллер, Юлий Александрович, Погодин-Алексеев, Георгий Иванович, Рахштадт, Александр Григорьевич
Заглавие : Металловедение (методы анализа, лабораторные работы и задачи) : Учеб. пособие для вузов . -3-е изд., перераб.
Выходные данные : Москва: Металлургия, 1967
Колич.характеристики :404 с
Цена : 01.09 р.
ББК : 34.2
Предметные рубрики: Машиностроение-- Металловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): алюминий--двойные сплавы--диаграммы состояния--дилатометрический метод--задачи--измерение твердости вдавливанием--испытание на сжатие--испытания на изгиб--испытания на кручение--испытания на повышенных температурах--испытания на пониженных температурах--испытания на растяжение--испытания на ударную вязкость--испытания на усталость--лабораторные работы--магний--магнитные свойства--макроанализ--макроскопический анализ--медь--металловедение--методы исследования--механические испытания--микроанализ--микроскопический анализ--микротвердость--оптическая микроскопия--пластическая деформация--прокаливаемость стали--рекристаллизация--способы макроанализа--структура стали--структура чугуна--твердость металлов--твердость по бринелю--твердость по викерсу--твердость по роквеллу--термическая обработка--термический анализ--тройные сплавы--ультрафиолетовое излучение--учебники для вузов--цветные сплавы--электрическое сопротивление--электронная микроскопия
Аннотация: Изложены методы изучения металлов, приведены лабораторные работы по основным разделам курса (термический анализ, макро- и микроисследования, определение твердости и физических свойств, термическая обработка стали, чугуна и цветных металлов), задачи по разбору диаграмм состояния сплавов, микроструктур металлов и рациональному выбору состава и обработка сплавов.
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)