Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

В текущей базе данных найдено документов :17

В других БД по вашему запросу найдено:

Электронный каталог (8)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>KL=оптическая микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 17
Показаны документы с 1 по 17

Геллер, Юлий Александрович.
Металловедение (методы анализа, лабораторные работы и задачи) [Текст] : учеб. пособие для вузов / Ю. А. Геллер. - 3-е изд., перераб. - Москва : Металлургия, 1967. - 404 с. - 01.09 р.

Смолмен, Р.
Современная металлография [Текст] / Р. Смолмен, К. Ашби ; пер.: Е. В. Борисова, Ю. Г. Година ; под ред. В. Б. Семикоза = Modern metallography / R. Smallman ; K. Ashbee : научное издание. - М. : Атомиздат, 1970. - 208 с. : ил. ; 20 см. - 2.17 р.
Тит. л. парал. на англ. яз.

ГРНТИ	53.49
УДК	669:539.2

Рубрики: Металлургия--Металловедение

Кл.слова (ненормированные):
ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ПОВЕРХНОСТНАЯ ТОПОГРАФИЯ -- ПОЛЯРИЗАЦИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОГРАФИЯ МЕТАЛЛОВ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- ТЕОРИЯ КОНТРАСТА -- АТОМНЫЕ ДЕФЕКТЫ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ РЕШЕТКА
Аннотация: В книге, написанной известными специалистами в области физики металлов, рассмотрены различные дефекты в кристаллических телах, от которых в основном зависит поведение материалов в определенных условиях. Изложены методы металлографического анализа. Приведены сведения об оптических микроскопах.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Ашби, К. Ashbee K.
Борисова, Е. В.
Годин, Ю. Г.
Семикоза, В. Б.
Найти похожие

Аристова, Н. А.
Термическая обработка литейных алюминиевых сплавов [Текст] : научное издание / Н. А. Аристова, И. Ф. Колобнев. - М. : Металлургия, 1977. - 144 с. : ил., табл., рис. ; 20 см. - 0.40 р.

ГРНТИ	55.21
УДК	621.78:669.715

Рубрики: Обработка материалов--Термическая обработка

Кл.слова (ненормированные):
СТРУКТУРА СПЛАВОВ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- УЛЬТРАФИОЛЕТОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ ТЕНЕВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- АЛЮМИНИЕВЫЕ СПЛАВЫ
Аннотация: Даны справочные сведения по технологии термической обработки литейных алюминиевых сплавов и лабораторных исследований их структуры и свойств.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Колобнев, И. Ф.
Найти похожие

Градус, Л. Я.
Руководство по дисперсионному анализу методом микроскопии [Текст] : научное издание / Л. Я. Градус. - M. : Химия, 1979. - 232 с. : граф., рис., табл. ; 20 см. - Библиогр.: с. 230-232. - 0.60 р.

ГРНТИ	31.15
УДК	541.182

Рубрики: Химия--Физическая химия

Кл.слова (ненормированные):
ДИСПЕРСИОННЫЙ АНАЛИЗ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЧАСТИЦЫ АЭРОЗОЛЕЙ -- ТИПЫ МИКРОСКОПОВ -- ЧАСТИЦЫ ПОРОШКА -- ПРИГОТОВЛЕНИЕ ПРЕПАРАТОВ
Аннотация: Изложены основные сведения, необходимые для проведения дисперсионного анализа частиц аэрозолей и порошков методом микроскопии. Рассмотрена техника приготовления препаратов из частиц, способы их изучения и применяемая для этой цели аппаратура, вспомогательные приборы и принадлежности.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

Опыт применения электрических разрядов в обработке металлов [Текст] / В. Г. Антосяк [и др.] ; Кишиневский политехн. ин-т. - Кишинев : Штиинца, 1983. - 124 с. : ил. ; 21 см. - 1.20 р.

ГРНТИ	55.20
УДК	621.7/9.047/048

Рубрики: Обработка материалов--Электрические методы обработки

Кл.слова (ненормированные):
электронно-зондовые системы -- рентгенографические системы -- обработка материалов -- обработка металлов -- электрообработка -- электроразрядная обработка -- оптическая микроскопия -- лазерный микроанализ -- плазма -- волновые процессы -- поперечные волны -- разрядная плазма -- дуговой разряд -- периодические разряды -- диагностика плазмы
Аннотация: Рассматриваются вопросы, связанные с изучением состояния плазмы и методами ее диагностики. Описываются современные методы и оборудование для проведения комплексного исследования и контроля материалов, подвергшихся электроразрядной обработке, в частности оптическая микроскопия, лазерный микроанализ, электронно-зондовые и рентгенографические системы, приборы акустической эмиссии.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Антосяк, В. Г.
Маковейчук, Г. Е.
Плахотников, О. И.
Шистик, Л. Н.
Найти похожие

Физическое металловедение [Текст] : атомное строение металлов и сплавов; Пер. с англ. / Р. У. Кан, П. Хаазен, Хаазен П. - М. : Металлургия, 1987 - .
Т.1. - 1987. - 639 с. ; 22 см. - 6.40 р.

ГРНТИ	53.49
УДК	669.017+669.53

Рубрики: Металлургия--Металловедение

Кл.слова (ненормированные):
металловедение -- металлургия -- физическое металловедение -- оптическая микроскопия -- стереомикроскопия -- фотоэлектроны -- микроструктура сплавов -- магнетизм -- сверхпроводимость
Аннотация: Изложены физические основы теории металлического состояния.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Кан, Р.У.
Хаазен, П.
Хаазен П.,
Найти похожие

Дюков, Валентин Георгиевич.
Растровая оптическая микроскопия [Текст] : научное издание / В. Г. Дюков, Ю. А. Кудеяров. - Москва : Наука, 1992. - 208 с. : ил. - (Современные физико-технические проблемы). - Библиогр. - ISBN 5-02-014374-X : 42.00 р.

УДК

681.723.2

Рубрики: техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- оптическая микроскопия -- растровые оптические микроскопы
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Кудеяров, Юрий Алексеевич
Найти похожие

Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2004. - 384 с. : ил. ; 24 см. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-018-0 : 275.00 р.

ГРНТИ	81.09.01.33
УДК	620.22(075.8)

ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- исследования материалов -- микроструктура -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- дифракционный анализ -- дифракция -- оптическая микроскопия
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Баженов, С. Л.
Найти похожие

Миронов, В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2004. - 143, [1] с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 153.32 р.

УДК

621.385.833(075.8)

681.723.2(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия
Аннотация: Пособие охватывает всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов.
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Найти похожие

10.

Методы и средства микроскопии [Текст] : метод. указания / ГОУ ВПО "Уральский государственный технический университет - УПИ" ; сост.: Б. В. Шульгин [и др.] ; науч. ред. А. В. Кружалов. - Екатеринбург : Изд-во УМЦ УПИ, 2005. - 187, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 186-187 (25 назв.) . - ISBN [Б. и.] : 65.00 р.

УДК

681.723.2(072.8)

620.22(072.8)

Рубрики: техника--оптические приборы--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
микроскопия -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- зондовая микроскопия -- обработка изображений -- наночастицы -- биологические объекты
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Шульгин, Борис Владимирович
Анипко, Алла Владимировна
Антонов, Илья Витальевич
Гайдуков, Владимир Владимирович
Кружалов, А. В.
Найти похожие

11.

Миронов, В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2005. - 143, [1] с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 167.00 р.

УДК

621.385.833(075.8)

681.723.2(075.8)

12.

Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Электронный ресурс] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан. - Электрон. текстовые дан. - М. : Техносфера, 2006. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - Систем. требования: Прил. :Pentium III 900 Mгц ; Adobe Acrobat Reader ; CD-ROM. - Загл. с контейнера. - Б. ц.
Электронный аналог печатного издания. Диски помещены в контейнер 13Х13 см. Режим доступа: http://lib.sstu.ru/books/Ld_110.pdf
Параллельные издания: Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 384 с: ил. - ISBN 5-94836-018-0 (Шифр 620.2(075)/Б87)

ГРНТИ	81.09.01.33
УДК	620.22(075)

ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение--Микроанализ материалов

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОАНАЛИЗАТОРЫ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- МИКРОСТРУКТУРА -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА
Аннотация: Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.

Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Найти похожие

13.

Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 384 с. : ил. ; 24 см. - (Мир материалов и технологий ). - ISBN 5-94836-018-0 : 160.00 р.
Гриф: рек. Ин-том химич. физики РАН в качестве учеб. пособия для студ., обуч. по напр. подг. "Прикладные математика и физика" . Имеется электронный аналог печатного издания
Параллельные издания: Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля / Д. Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2006. - 1эл. опт. диск (CD-ROM). - ISBN 5-94836-018-0 (Шифр 620.2(075)/Б87)

ГРНТИ	81.09.01.33
УДК	620.22(075)

ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение--Микроанализ материалов

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОАНАЛИЗАТОРЫ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- МИКРОСТРУКТУРА -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА
Аннотация: Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Баженов, С. Л.
Егорова, О. В.
Найти похожие

14.

Kaupp, Gerd.
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Электронный ресурс] : научное издание / G. Kaupp. - Электрон. текстовые дан. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006?. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - (NanoScience and Technology) (Springer eBook Collection). - ISBN 9783540284727. - ISBN 9783540284727 (ошибоч.) (в кор.) : 630.00 р.

УДК

621.385.833(0.034.4)

681.723.2(0.034.4)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия -- оптическая микроскопия -- нанотехнологии -- наноцарапины
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие

15.

Кларк, Э. Р.
Микроскопические методы исследования материалов [Электронный ресурс] : научное издание / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт. - Электрон. текстовые дан. - М. : Техносфера, 2007. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - Систем. требования: Прил. :Pentium III 900 Mгц ; Adobe Acrobat Reader ; CD-ROM. - Загл. с контейнера. - Б. ц.
Электронный аналог печатного издания. Диски помещены в контейнер 13Х13см. Режим доступа: http://lib.sstu.ru/books/Ld_114.pdf
Параллельные издания: Кларк Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов / Э. Р. Кларк , К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2007. - 376 с: ил. - ISBN 978-5-94836-121-5 (Шифр 620.1/К47)

ГРНТИ	81.01
УДК	620.1

ББК 30.3

Рубрики: Испытания материалов--Исследования материалов

Кл.слова (ненормированные):
МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ИНТЕРФЕРЕНЦИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- КОНСТРУКЦИОННЫЕ МАТЕРИАЛЫ -- ДВУМЕРНОЕ ИЗОБРАЖЕНИЕ -- ЦИФРОВОЕ ИЗОБРАЖЕНИЕ -- КОМПОЗИТЫ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Аннотация: В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические - например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов.

Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Эберхардт, К. Н.
Найти похожие

16.

   Сердюк, Игорь
    Методы в молекулярной биофизике. Структура. Функция. Динамика [Текст] : учебное пособие : в 2 т. / И. Сердюк, Н. Заккаи, Дж. Заккаи ; [науч. ред. И. Сердюк]. - Москва : КДУ : Благотворительный фонд "Вольное дело" [изд.] : Компания "Базовый элемент" [изд.], 2009 - 2010.
   Т. 2. - Москва : КДУ : Благотворительный фонд "Вольное дело" [изд.] : Компания "Базовый элемент" [изд.], 2010. - 734, [2] с. : цв. ил. - ). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-98227-454-0 (Том 2) (в пер.) : 1339.00 р.

УДК

577.32(075.8)

Рубрики: биология--биофизика

Кл.слова (ненормированные):
молекулярная биофизика -- биологические макромолекулы -- молекулярная биология -- оптическая микроскопия -- рентгеновская дифракция -- нейтронная дифракция -- электронная дифракция -- спектроскопия -- молекулярная динамика -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР)
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Заккаи, Натан
Заккаи, Джозеф
Найти похожие

17.

Фомин, А. А.
Плазменно-индукционное напыление покрытий дентальных имплантатов [Текст] : микроструктура и механические свойства : монография / А. А. Фомин. - Saarbrucken : LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011. - 151 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 133-150 (173 назв.). - ISBN 978-3-8443-5251-1 : 50.00 р.

ГРНТИ	76.29.55	81.35.33
УДК	616.3:621.793

ББК 56.6 + 30.61

Рубрики: Медицина--Клиническая медицина

Обработка материалов--Напыление

Кл.слова (ненормированные):
ИМПЛАНТАТЫ -- ДЕТАЛЬНЫЕ ИМПЛАНТАТЫ -- НАПЫЛЕНИЕ ПОКРЫТИЙ -- ПЛАЗМЕННО-ИНДУКЦИОННОЕ НАПЫЛЕНИЕ -- МЕДИКО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ИЗДЕЛИЯ -- БИОСОВМЕСТИМЫЕ ПОКРЫТИЯ -- БИОХИМИЧЕСКАЯ СОВМЕСТИМОСТЬ -- ПЛАЗМЕННОЕ НАПЫЛЕНИЕ -- ИНДУКЦИОННЫЙ НАГРЕВ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОФАЗОВЫЙ АНАЛИЗ -- МИКРОСТРУКТУРА -- МЕХАНИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА -- МИКРОТВЕРДОСТЬ -- ПРОФИЛОМЕТРИЯ
Аннотация: В данной монографии рассматривается технология нанесения биосовместимых покрытий медико-технических изделий с помощью нового плазменно-индукционного метода, решается проблема повышения уровня биомеханической совместимости покрытий дентальных имплантатов. Теоретическая часть включает использование основных положений теории плазменного напыления и индукционного нагрева. Свойства покрытий изучались методами рентгенофазового анализа, оптической микроскопии, профилометрии, измерения микротвердости и прочности при срезе. Новизна полученных данных заключается в предложенной модели прочности сцепления покрытия с основой, учитывающей влияние ее индукционно-термической активации и дистанции плазменного напыления. Установлены закономерности влияния температуры предварительного индукционного нагрева основы и дистанции напыления на фазово-структурное состояние и механические свойства покрытий имплантатов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)