Поисковый запрос: (<.>KL=оптическая микроскопия<.>) |
Общее количество найденных документов : 17
Показаны документы с 1 по 17 |
1.
| Геллер Ю. А. Металловедение (методы анализа, лабораторные работы и задачи)/Ю. А. Геллер. - 1967
|
2.
| Смолмен Р. Современная металлография/Р. Смолмен, К. Ашби ; пер.: Е. В. Борисова, Ю. Г. Година ; под ред. В. Б. Семикоза. - 1970
|
3.
| Аристова Н. А. Термическая обработка литейных алюминиевых сплавов/Н. А. Аристова, И. Ф. Колобнев. - 1977
|
4.
| Градус Л. Я. Руководство по дисперсионному анализу методом микроскопии/Л. Я. Градус. - 1979
|
5.
| Опыт применения электрических разрядов в обработке металлов/В. Г. Антосяк [и др.]. - 1983
|
6.
| Физическое металловедение. Т.1. - 1987
|
7.
| Дюков В. Г. Растровая оптическая микроскопия/В. Г. Дюков, Ю. А. Кудеяров. - 1992
|
8.
| Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля/Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова. - 2004
|
9.
| Миронов В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии/В. Миронов. - 2004
|
10.
| Методы и средства микроскопии/ГОУ ВПО "Уральский государственный технический университет - УПИ". - 2005
|
11.
| Миронов В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии/В. Л. Миронов. - 2005
|
12.
| Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля/Д. Брандон, У. Каплан. - 2006
|
13.
| Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля/Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. - 2006
|
14.
| Kaupp G. Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces/G. Kaupp. - 2006?
|
15.
| Кларк Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов/Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт. - 2007
|
16.
| Сердюк, Игорь Методы в молекулярной биофизике. Структура. Функция. Динамика. Т. 2. - 2010
|
17.
| Фомин А. А. Плазменно-индукционное напыление покрытий дентальных имплантатов/А. А. Фомин. - 2011
|
|
|
Электронный каталог
Стандартный (по одному полю)