| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :3
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (3)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=нанометрология<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 454840
Автор(ы) : Лич, Ричард К.
Заглавие : Инженерные основы измерений нанометровой точности : учеб. пособие
Выходные данные : Долгопрудный: Издательский дом "Интеллект", 2012
Колич.характеристики :400 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 390-393 (55 назв.)
ISBN (в пер.), Цена 978-5-91559-119-5: 1246.30 р.
УДК : 621.38-022.532:006.91(075.8)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
метрология.стандартизация-- метрология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии--инженерная метрология--нанометрология--прецизионные средства измерений--интерферометрия--метрология поверхностей--сканирующая зондовая микроскопия--сканирующая электронная микроскопия--координатная метрология--измерения массы--измерения силы
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.3(075.8)
Автор(ы) : Кузнецов, Николай Тимофеевич, Новоторцев, Владимир Михайлович, Жабрев, Валентин Александрович, Марголин, Владимир Игоревич
Заглавие : Основы нанотехнологии : учебник
Выходные данные : Москва: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2014
Колич.характеристики :397, [3] с.: ил.
Серия: Учебник для высшей школы
Примечания : Библиогр.: с. 377-397. - Рекомендовано учеб.-метод. об-нием вузов РФ по образованию в обл. радиотехники, электроники, биомед. техники и автоматизации в качестве учеб. для студентов вузов, обучающихся по направлению 211000 "Конструирование и технология электронных средств"
ISBN (в пер.), Цена 978-5-9963-0853-8: 517.50 р.
УДК : 620.3(075.8)
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии--наномир--самоорганизация--синергетика--нанометрология
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.3(075)/Р 21
Автор(ы) : Рамсден Дж.
Заглавие : Физико-технические основы бионанотехнологий и наноиндустрии : учеб. пособие
Выходные данные : Долгопрудный: ИД "Интеллект", 2013
Колич.характеристики :336 с.: ил.; 21 см
Примечания : Библиогр.: с. 327-335 (175 назв.)
ISBN, Цена 978-5-91559-139-3: 1228.15 р.
ГРНТИ : 81.09.30.01.33
УДК : 620.3(075.8)
ББК : 30.3
Предметные рубрики: Нанотехнологии
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнология--наношкала--нано/био интерфейс--нанометрология--наноматериалы--наноустройства--нанофактура--наносистемы--бионанотехнология--нано-неологизмы
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)