Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

В текущей базе данных найдено документов :3

В других БД по вашему запросу найдено:

Электронный каталог (3)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>KL=нанометрология<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

Лич, Ричард К..
Инженерные основы измерений нанометровой точности [Текст] : учеб. пособие / Р. К. Лич ; пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Издательский дом "Интеллект", 2012. - 400 с. : ил. - Библиогр.: с. 390-393 (55 назв.). - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.) : 1246.30 р.

УДК

621.38-022.532:006.91(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

метрология.стандартизация--метрология

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- инженерная метрология -- нанометрология -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- метрология поверхностей -- сканирующая зондовая микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- координатная метрология -- измерения массы -- измерения силы
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Заблоцкий, А. В.
Найти похожие

Основы нанотехнологии [Текст] : учебник / Н. Т. Кузнецов, В. М. Новоторцев. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2014. - 397, [3] с. : ил. - (Учебник для высшей школы). - Библиогр.: с. 377-397. - ISBN 978-5-9963-0853-8 (в пер.) : 517.50 р.
Рекомендовано учеб.-метод. об-нием вузов РФ по образованию в обл. радиотехники, электроники, биомед. техники и автоматизации в качестве учеб. для студентов вузов, обучающихся по направлению 211000 "Конструирование и технология электронных средств"

УДК

620.3(075.8)

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- наномир -- самоорганизация -- синергетика -- нанометрология
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Кузнецов, Николай Тимофеевич
Новоторцев, Владимир Михайлович
Жабрев, Валентин Александрович
Марголин, Владимир Игоревич
Найти похожие

Рамсден, Дж.
Физико-технические основы бионанотехнологий и наноиндустрии [Текст] : учеб. пособие / Дж. Рамсден ; пер. с англ. Л. Н. Кодомского. - Долгопрудный : ИД "Интеллект", 2013. - 336 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 327-335 (175 назв.). - ISBN 978-5-91559-139-3 : 1228.15 р.

ГРНТИ	81.09.30.01.33
УДК	620.3(075.8)

ББК 30.3

Рубрики: Нанотехнологии

Кл.слова (ненормированные):
НАНОТЕХНОЛОГИЯ -- НАНОШКАЛА -- НАНО/БИО ИНТЕРФЕЙС -- НАНОМЕТРОЛОГИЯ -- НАНОМАТЕРИАЛЫ -- НАНОУСТРОЙСТВА -- НАНОФАКТУРА -- НАНОСИСТЕМЫ -- БИОНАНОТЕХНОЛОГИЯ -- НАНО-НЕОЛОГИЗМЫ
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Кодомский, Л. Н.
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)