| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :4
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (3)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=кремниевые микросхемы<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382/А 16
Автор(ы) : Абрамов И. И.
Заглавие : Моделирование физических процессов в элементах кремниевых интегральных микросхем
Выходные данные : Б.м., 1999
Колич.характеристики :189 с.: табл.; 21см
ISBN, Цена 985-445-148-8: 20.00 р.
ГРНТИ : 47.33.31
УДК : 621.382.049.77
Предметные рубрики: Электроника-- Полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): интегральные микросхемы--полупроводниковая электроника--моделирование физических процессов--кремниевые микросхемы
Найти похожие

2.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 778400
621.382-181/К 78
Автор(ы) : Красников, Г. Я.
Заглавие : Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС: в 2 ч./ Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев. Ч. 1
Выходные данные : Москва: Микрон-Принт, 1999
Колич.характеристики :226 с.: ил.
Примечания : Библиогр.
ISBN (в пер.), Цена 5-93497-001-1: 30.00 р.
УДК : 621.382
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сверхбольшие интегральные схемы (сбис)--кремниевые микросхемы--дефекты кристаллов--технологические процессы (тп)--кремний--контроль технологический--кремния диоксид
Найти похожие

3.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 993229
621.382-181/К 78
Автор(ы) : Красников, Г. Я.
Заглавие : Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС: в 2 ч./ Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев. Ч. 2
Выходные данные : Москва: Микрон-Принт, 1999
Колич.характеристики :216 с.: ил.
Примечания : Библиогр.
ISBN (в пер.), Цена 5-93497-001-1: 30.00 р.
УДК : 621.382
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сверхбольшие интегральные схемы (сбис)--технологические процессы (тп)--кремниевые микросхемы--электрические свойства--геттерирования метод--кремний--кремния диоксид
Найти похожие

4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382.049.77(07/П 580-255925387
Автор(ы) : Попов, Виктор Дмитриевич, Белова, Галина Федоровна
Заглавие : Физические основы проектирования кремниевых цифровых интегральных микросхем в монолитном и гибридном исполнении : учебное пособие
Выходные данные : Санкт-Петербург; Москва; Краснодар: Лань, 2013
Колич.характеристики :207, [1] с.: ил., табл.
Серия: Учебники для вузов. Специальная литература
Примечания : Библиогр.: с. 200-204 (72 назв.)
ISBN (в пер.), Цена 978-5-8114-1375-1: 662.00 р.
УДК : 621.382.049.77(075.8)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): цифровые интегральные микросхемы--интегральные микросхемы--кремниевые микросхемы--проектирование--моп-транзисторы--биполярные интегральные микросхемы--гибридные интегральные микросхемы--надежность--радиационная стойкость
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)