| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :14
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (15)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=атомно-силовая микроскопия(АСМ)<.>)
Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 14
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 593221
621.385.833681.4/М 64
Автор(ы) : Миронов В. Л.
Заглавие : Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2004
Колич.характеристики :143, [1] с.: цв.ил
Коллективы : Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород
Серия: Мир физики и техники
Примечания : Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.)
ISBN (в пер.), Цена 5-94836-034-2: 153.32 р.
УДК : 621.385.833(075.8) + 681.723.2(075.8)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия--микроскопы--сканирующая туннельная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--оптическая микроскопия
Аннотация: Пособие охватывает всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов.
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 102320
621.385.833681.4/М 64
Автор(ы) : Миронов В. Л.
Заглавие : Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2005
Колич.характеристики :143, [1] с.: ил.
Коллективы : Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород
Серия: Мир физики и техники
Примечания : Библиогр.: с. 140-143
ISBN (в пер.), Цена 5-94836-034-2: 167.00 р.
УДК : 621.385.833(075.8) + 681.723.2(075.8)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия--микроскопы--сканирующая туннельная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--оптическая микроскопия
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 429577
Автор(ы) : Kaupp, Gerd
Заглавие : Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Electronic resource] : научное издание
Выходные данные : Berlin; Heidelberg: Springer, 2006?
Колич.характеристики :1 эл. опт. диск (CD-ROM)
Серия: NanoScience and Technology .
    Springer eBook Collection
Вид и объем ресурса: Электрон. текстовые дан.
ISBN (в кор.), Цена 9783540284727: 630.00 р.
УДК : 621.385.833(0.034.4) + 681.723.2(0.034.4)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы--атомно-силовая микроскопия(асм)--сканирующая туннельная микроскопия--оптическая микроскопия--нанотехнологии--наноцарапины
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 352571
Автор(ы) : Кларк, Эшли Р., Эберхардт, Колин Н.
Заглавие : Микроскопические методы исследования материалов : научное издание
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2007
Колич.характеристики :371, [5] с
Коллективы : Ин-т синтет. полимер. материалов им. Е. Н. Ениколопова РАН
Серия: Мир материалов и технологий
Примечания : Библиогр. в конце разд.
ISBN, Цена 978-5-94836-121-5 (в пер.): 175.00 р.
ISBN, Цена 1-85573-587-3 (англ.): Б.ц.
УДК : 620.22 + 681.723
Предметные рубрики: техника-- материаловедение-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--микроскопы--микроскопия--микроскопические методы--конструкционные материалы--фотоника--цифровые изображения--микроскопия отраженного света--конфокальная микроскопия--рамановская микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--рентгеновская микроскопия--томография--сканирующая акустическая микроскопия
Аннотация: В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические - например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов.
Найти похожие
5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 419578 рукописный текст
Автор(ы) : Lõhmus, Rünno
Заглавие : Application of Novel Hybrid Methods in SPM Studies of Nanostructural Materials : Dis. for the Degree of Doctor of Philosophy in physics (experimental physics)
Выходные данные : Tartu: Tartu Univ. Press, 2002
Колич.характеристики :93, [3] с
Серия: Dissertationes Physicae Univ. Tartuensis; 39
Примечания : Bibliogr. at the end of the chapters
ISSN: 1406-0647
ISBN, Цена 9985-56-695-5: [б. ц.]
УДК : 620.3(043.3) + 620.187(043.3)
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктурированные материалы--сканирующая зондовая микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--сканирующая туннельная микроскопия
Найти похожие
6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 955234
Автор(ы) : Шарипов, Талгат Ишмухамедович
Заглавие : Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02
Выходные данные : Саратов: [б. и.], 2011
Колич.характеристики :22, [1] с.: рис.
Коллективы : ГОУ ВПО "Башкирский государственный университет"
Примечания : Библиогр.: с. 19-20
ISBN, Цена [Б. и.]
УДК : 577.323(043.3)
Предметные рубрики: биология-- биофизика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): днк--днк-чипы--биосенсоры--сканирующая зондовая микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--иммобилизация
Найти похожие
7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 895198 рукописный текст
Автор(ы) : Шарипов, Талгат Ишмухамедович
Заглавие : Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 : защищена 15.03.2011
Выходные данные : Саратов: [б. и.], 2011
Колич.характеристики :111 л.: рис. + 1 автореф.
Коллективы : Башк. гос. ун-т
Примечания : Библиогр.: л. 99-110 (110 назв.)
ISBN (в пер.), Цена [Б. и.]
УДК : 577.323(043.3)
Предметные рубрики: биология-- биофизика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): днк--днк-чипы--биосенсоры--сканирующая зондовая микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--иммобилизация
Найти похожие
8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 009163
Автор(ы) : Усанов, Дмитрий Александрович
Заглавие : Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения : научное издание
Выходные данные : Саратов: Издательство Саратовского университета, 2010
Колич.характеристики :98, [2] с
Разночтения заглавия :Загл., сост. каталогизатором: Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области её применения
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 978-5-292-03937-2: 98.21 р.
УДК : 621.385.833 + 681.723.2
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): свч-микроскопы--ближнеполевые свч- микроскопы--сканирующая туннельная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--нанотехнологии--линии передачи--свч-резонаторы
Аннотация: В последние несколько десятилетий в практику вошли средства измерений, работающие в нанометровом масштабе: сканирующие туннельные, атомносиловые и СВЧ-ближнеполевые микроскопы. В настоящем издании рассмотрены принципы действия, основные характеристики, обсуждены достоинства и недостатки, приведены примеры применения различных типов ближнеполевых сканирующих СВЧ-микроскопов. Для ученых, преподавателей и студентов, занимающихся исследованиями в области нано- и биомедицинских технологий.
Найти похожие
9.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 668468
Автор(ы) : Плескова, Светлана Николаевна
Заглавие : Атомно-силовая микроскопия в биологических и медицинских исследованиях : учебное пособие
Выходные данные : Долгопрудный: Издательский дом "Интеллект", 2011
Колич.характеристики :183, [1] с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 173-183
ISBN, Цена 978-5-91559-108-9: 512.50 р.
УДК : 57.088(075.8)
Предметные рубрики: биология-- биология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атомарно-силовые микроскопы--атомно-силовая микроскопия(асм)--биология--медицина
Найти похожие
10.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 620.3(035)
Автор(ы) :
Заглавие : Справочник Шпрингера по нанотехнологиям: в 3 т./ Федер. гос. учреждение Науч.-произв. комплекс "Технологический центр" Моск. гос. ин-та электронной техники ; под ред. Б. Бхушана ; пер. с англ. под общ. ред. А. Н. Саурова. - (Мир материалов и технологий; 6 ; 30). - 2-е изд. Т. 2
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2010
Колич.характеристики :1040 с.: ил.
Коллективы : Федер. гос. учреждение Науч.-произв. комплекс "Технологический центр" МИЭТ
Серия:
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 978-5-94836-263-2: 1022.00 р.
УДК : 620.3(035) + 621.38-022.532(035)
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии--материаловедение--сканирующая зондовая микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--нанотрибология--нанореология--адгезия--тонкие пленки--биологическая нанотехнология
Найти похожие
11.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : /Е 78 рукописный текст
Автор(ы) : Ерохин, Павел Сергеевич
Заглавие : Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 : защищена 28.04.2015
Выходные данные : Саратов: [б. и.], 2015
Колич.характеристики :127 л. + 1 автореф.
Коллективы : Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского"
Примечания : Библиогр.: л. 104-127 (209 назв.)
ISBN (в пер.), Цена [Б. и.]
УДК : 579.086.3(043.3)
Предметные рубрики: биология-- микробиология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроорганизмы--бактериальные клетки--микробные сообщества--биопленки--атомно-силовая микроскопия(асм)--обработка изображений--сканирующая зондовая микроскопия
Найти похожие
12.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 579(043.3)/Е 782-741524 рукописный текст
Автор(ы) : Ерохин, Павел Сергеевич
Заглавие : Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02
Выходные данные : Саратов: [б. и.], 2015
Колич.характеристики :22, [1] с
Коллективы : Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского"
Примечания : Библиогр.: с. 20-22 (22 назв.)
ISBN, Цена [Б. и.]
УДК : 579.086.3(043.3)
Предметные рубрики: биология-- микробиология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроорганизмы--бактериальные клетки--микробные сообщества--биопленки--атомно-силовая микроскопия(асм)--обработка изображений--сканирующая зондовая микроскопия
Найти похожие
13.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 577.3(076.5)
Автор(ы) :
Заглавие : Практикум по биофизике: в 2 ч./ под ред. А. Б. Рубина. - (Учебник для высшей школы). Ч. 1
Выходные данные : Москва: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2016
Колич.характеристики :191, [1] с.: ил.
Серия:
Примечания : Библиогр. в конце разд. - Рекомендовано к опубл. решением Учен. и Учеб.-метод. советов биол. фак. Моск. гос. ун-та им. М. В. Ломоносова
ISBN, Цена 978-5-9963-1815-5: 319.00 р.
УДК : 577.3(076.5)
Предметные рубрики: биология-- биофизика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): биофизика--биофизические методы--математическое моделирование--хемилюминесценция--флуоресценция--атомно-силовая микроскопия(асм)--электронный парамагнитный резонанс (эпр)--спектрофотометрия--спектры комбинационного рассеяния --радиоспектроскопия
Найти похожие
14.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382.3
Автор(ы) : Груздов, Вадим Владимирович, Колковский, Юрий Владимирович, Концевой, Юлий Абрамович
Заглавие : Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике : учебное пособие
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2016
Колич.характеристики :327, [1] с.: ил.
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN (в пер.), Цена 978-5-94836-426-1: 1170.40 р.
УДК : 621.382.3
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): твердотельная электроника--свч-электроника--интеллектуальная собственность--стандарты--свч-транзисторы--полупроводниковые приборы--технологические процессы (тп)--широкозонные материалы--контроль качества--гетероструктуры--электронная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--электронная спектроскопия--рентгеновская дифрактометрия
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)