| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=анализ соединений<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 24.4я73
Автор(ы) : Чернова Р. К., Кулапина Е. Г., Козлова Л. М.
Заглавие : Практикум по аналитической химии : учебное пособие
Выходные данные : Саратов: Издательство Саратовского национального государственного университета имени Н. Г. Чернышевского, 2003
Колич.характеристики :240 с.: ил.
ISBN, Цена 5-292-02948-3: 10.00 р.
ББК : 24.4я73
Предметные рубрики: Химия-- Аналитическая химия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): анализ соединений--дробный метод--издания саратова--лабораторные работы--метод осаждения--пособия для вузов--пробоотбор--растворы--спектроскопия--титриметрический метод--хемометрика--хроматография--экстракция--электрохимический метод
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 24.5я73
Автор(ы) : Порай-Кошиц, Михаил Александрович
Заглавие : Основы структурного анализа химических соединений : учеб. пособие для вузов . -2-е изд., перераб. и доп.
Выходные данные : Москва: Высшая школа, 1989
Колич.характеристики :292 с
ISBN, Цена 5-06-000074-5: 0.40 р.
ББК : 24.5я73
Предметные рубрики: Химия-- Физическая химия. Химическая физика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): анализ соединений--дифракция рентгеновских лучей--нейронография--пособия для вузов--рентгеноструктурный анализ--симметрия кристаллов--структурная кристаллография--структурный анализ--электронография
Аннотация: Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы «начальных фаз», наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)