| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>KL=ЭЛЕКТРОПАРАМЕТРЫ<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Продолжающееся издание
Шифр издания : 621.382/И 88
Заглавие : Исследования качества и точности измерений параметров полупроводниковых диодов/ Научно-исслед. ин-т метрологии вузов (Москва). Вып. 4
Выходные данные : М.: Изд-во стандартов, 1969
Колич.характеристики :165 с.: черт.; 27 см
Коллективы : Научно-исслед. ин-т метрологии вузов
Серия:
Примечания : Библиогр. в конце ст.
Цена : 1.11 р.
УДК : 621.382
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые диоды--измерение параметров--теплофизические параметры--прецизионные стабилитроны--туннельные диоды--электропараметры--высокочастотные параметры--точность измерений
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)