| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП<.>)
Общее количество найденных документов : 10
Показаны документы с 1 по 10
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 669/Л 12
Автор(ы) : Панченко Е. В., Скаков Ю. А., Попов К. В., Кример Б. И.
Заглавие : Лаборатория металлографии : учеб. пособие
Выходные данные : М.: Металлургиздат, 1957
Колич.характеристики :695 с.: ил., черт.; 22 см
Примечания : Библиогр.: с. 560-572 (449 назв.). - Гриф: допущено М-вом высш. и сред. спец. образования СССР в качестве учеб. пособия для металлург. вузов и фак.
Цена : 17.10 р.
УДК : 669:539.2
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микрошлифы--микроструктура металлов--микроструктура сплавов--световой микроскоп--электронный микроскоп--методы количественной металлографии--микрорентгенография
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 669/С 51
Автор(ы) : Смолмен Р., Ашби К.
Заглавие : Современная металлография : научное издание
Параллельн. заглавия :Modern metallography/ R. Smallman; K. Ashbee
Выходные данные : М.: Атомиздат, 1970
Колич.характеристики :208 с.: ил.; 20 см
Примечания : Тит. л. парал. на англ. яз.
Цена : 2.17 р.
ГРНТИ : 53.49
УДК : 669:539.2
Предметные рубрики: Металлургия-- Металловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): оптическая микроскопия--высокотемпературная микроскопия--поверхностная топография--поляризационная микроскопия--рентгенография металлов--электронный микроскоп--теория контраста--атомные дефекты--кристаллическая решетка
Аннотация: В книге, написанной известными специалистами в области физики металлов, рассмотрены различные дефекты в кристаллических телах, от которых в основном зависит поведение материалов в определенных условиях. Изложены методы металлографического анализа. Приведены сведения об оптических микроскопах.
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.385/Т 78
Заглавие : Труды совещания по катодной электронике : тр. совещания
Выходные данные : Киев: Изд-во Акад. наук УССР, 1952
Колич.характеристики :140 с.: ил.; 22 см
Коллективы : Ин-т физики Акад. наук Укр. ССР (Киев), Акад. наук СССР, Отд-ние физико-математ. наук (Москва), Акад. наук Укр. ССР, Отд-ние физико-математ. и хим. наук (Киев), Совещание по катодной электронике (4-9 июня 1951 г.; Киев)
Примечания : Библиогр. в конце ст.
Цена : 7.30 р.
ГРНТИ : 47.01.13
УДК : 621.385+537.5
Предметные рубрики: Электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронный микроскоп--электронная эмиссия--диэлектрические пленки--щелочные металлы--травление металлов--тонкие пленки--импульсные разряды--труды совещания--материалы конференций
Аннотация: В настоящем сборнике трудов совещания публикуются в сокращенном виде некоторые из представленных на нем докладов, дискуссии по ним, а также материалы возникающие на этом совещании небольшой дискуссии по вопросу о природе эффективной фото- и вторичноэлектронной эмиссии.
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 515/И 19
Автор(ы) : Иваницкий Г. Р., Куниский А. С.
Заглавие : Математические методы исследования структур : научное издание
Выходные данные : М.: Изд-во "Знание", 1975
Колич.характеристики :64 с.: ил.; 21 см
Примечания : Библиогр.: с. 64 (8 назв.)
Цена : 0.11 р.
ГРНТИ : 27.21
УДК : 515.4+513.838
Предметные рубрики: Математика-- Начертательная геометрия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): геометрические вероятности--структурообразование--электронный микроскоп--обратное пространство--пространственная структура
Аннотация: В брошюре рассказывается о новых методах математического восстановления пространственной структуры объектов путем анализа их сечений и проекций. По мнению авторов, новые методы найдут широкое применение в практической работе минералогов, петрографов, астрономов и многих других специалистов. научное направление, разрабатывающее математический аппарат исследования трехмерной структуры объектов, называют стереологией.
Найти похожие
5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 535/К 34
Автор(ы) : Кельман В. М., Явор С. Я.
Заглавие : сверхпроводимостьЭлектронная оптика : научное издание
Выходные данные : М.; Л.: Изд-во Акад. наук СССР, 1959
Колич.характеристики :372 с.: ил., табл.; 27 см
Коллективы : Физико-техн. ин-т (Ленинград), Акад. наук СССР (Москва)
Примечания : Библиогр.: с. 365-370
Цена : 25.15 р.
ГРНТИ : 29.31
УДК : 535
Предметные рубрики: Физика-- Оптика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): заряженные частицы--электрические поля--электронные линзы--магнитные линзы--электроннооптические системы--электронный микроскоп--бета-спектрометры
Аннотация: Книга представляет собой подробный курс электронной оптики. Много места в ней уделено общим методам расчета движения заряженных частиц, подробно рассматриваются цилиндрические электронные линзы и разного рода отклоняющие системы.
Найти похожие
6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 535/К 34
Автор(ы) : Кельман В. М., Явор С. Я.
Заглавие : Электронная оптика : научное издание . -2-е изд., перераб. и доп.
Выходные данные : М.; Л.: Изд-во Акад. наук СССР, 1963
Колич.характеристики :362 с.: ил., табл.; 27 см
Коллективы : Физико-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе (Ленинград), Акад. наук СССР (Москва)
Примечания : Библиогр.: с. 354-360
Цена : 2.54 р.
ГРНТИ : 29.31
УДК : 535:537.122
Предметные рубрики: Физика-- Оптика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): заряженные частицы--электрические поля--электронные линзы--магнитные линзы--сферическая аберрация--электронный микроскоп--бета-спектрометры
Аннотация: Книга представляет собой подробный курс электронной оптики. Много места в ней уделено общим методам расчета движения заряженных частиц, подробно рассматриваются цилиндрические электронные линзы и разного рода отклоняющие системы.
Найти похожие
7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537/П 32
Автор(ы) : Пилянкевич А. Н.
Заглавие : Просвечивающая электронная микроскопия : монография
Выходные данные : Киев: Наукова думка, 1975
Колич.характеристики :219 с.: ил., табл.; 22 см
Коллективы : Акад. наук Укр. ССР (Киев)
Серия: Наука и технический прогресс
Примечания : Библиогр.: с. 209-217 (280 назв.)
Цена : 1.70 р.
ГРНТИ : 29.35
УДК : 537.533.35
Предметные рубрики: Физика-- Физические основы электроники
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рассеяние электронов--дифференциальное сечение--кристаллическая решетка--геометрические погрешности--дефокусировка--дифракционные линии--электронные линзы--электронный микроскоп
Аннотация: В монографии обобщаются данные по аспектам количественной просвечивающей электронной микроскопии, выбор которых связан с направленностью исследований автора. Работа не претендует на полноту освещения всего комплекса проблем практики современной электронной микроскопии.
Найти похожие
8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 535/К 34
Автор(ы) : Кельман В. М., Явор С. Я.
Заглавие : Электронная оптика : научное издание . -3-е изд., перераб. и доп.
Выходные данные : Л.: Наука, 1968
Колич.характеристики :488 с.: ил.; 22 см
Коллективы : Физико-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе (Ленинград), Акад. Наук СССР (Ленинград)
Примечания : Библиогр.: с. 476-485 (432 назв.)
Цена : 2.46 р.
ГРНТИ : 29.31 + 29.35
УДК : 535:537.5
Предметные рубрики: Физика-- Оптика
Физика-- Физические основы электроники
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): заряженные частицы--магнитное поле--электронные линзы--магнитные линзы--цилиндрические линзы--электронный микроскоп
Аннотация: Книга посвящена исследованию движения заряженных частиц в постоянных электрических и магнитных полях. Рассмотрены также параксиальные свойства осесимметричных линз и их аберрации.
Найти похожие
9.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537/Х 70
Автор(ы) : Хокс П.
Заглавие : Электронная оптика и электронная микроскопия : научное издание
Параллельн. заглавия :Electron optics and electron microscopy/ P. W. Hawkes
Выходные данные : М.: Изд-во "Мир", 1974
Колич.характеристики :319 с.: ил., табл.; 21 см
Примечания : Библиогр.: с. 296-299 (87 назв.). - Тит. л. парал. загл. на англ. яз.
Цена : 1.66 р.
ГРНТИ : 29.05
УДК : 537.533
Предметные рубрики: Физика-- Электронные явления
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронный микроскоп--электронные линзы--рентгеновский микроанализатор--уравнения траектории--параксиальные свойства
Аннотация: В книге изложены основные сведения о просвечивающих, растровых и зеркальных электронных микроскопах, анализаторах энергии, высоковольтных микроскопах, сверхпроводящих линзах, пушках с автоэлектронной эмиссией и др.; рассмотрены теория передачи контраста, структура аберрационных коэффициентов и коррекция аберраций.
Найти похожие
10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537/Э 45
Автор(ы) : Хирш П., Хови А., Николсон Р., Пэшли Д., Уэлан М.
Заглавие : Электронная микроскопия тонких кристаллов : монография : пер. с англ.
Параллельн. заглавия :Electron microscopy of thin crystals/ P. B. Hirsch, A. Howie, R. B. Nicholson, D. W. Pashley, M. J. Whelan
Выходные данные : М.: Изд-во "Мир", 1968
Колич.характеристики :574 с.: ил., табл.; 26 см
Примечания : Библиогр. в конце ст. - Тит. л. парал. на англ, яз.
Цена : 3.44 р.
ГРНТИ : 29.05
УДК : 537.533
Предметные рубрики: Физика-- Электронные явления
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракция электронов--электронный микроскоп--кикучи--кристаллографические данные--теория контраста
Аннотация: Данная книга освещает основы теории и экспериментальную практику просвечивающей электронной микроскопии кристаллов. Подробно описаны техника приготовления образцов, методика работы с электронным микроскопом, большое внимание уделено теориям дифракции электронов и дифракционного контраста, интерпретации и анализу электронных микрофотографий и микроэлектронограмм реальных кристаллов.
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)