Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>KL=ЦИНКОВОЕ ПОКРЫТИЕ<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.2(075)/С 42
Автор(ы) : Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И., Филатов А. М., Ульяненков А. Г.
Заглавие : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие
Выходные данные : М.: Техносфера, 2009
Колич.характеристики :208 с.: ил.; 22 см
Серия: Мир физики и техники
Примечания : Гриф: допущено умо по образованию в области металлургии в качестве учеб. пособия для студ. вузов, обуч. по напр. "Металлургия" и "Физическое материаловедение"
ISBN, Цена 978-5-94836-200-7: 407.00 р.
ГРНТИ : 81.09.01.33 + 47.29.01.33
УДК : 620.22:621.385.8(075.8)
ББК : 30.3
Предметные рубрики: Материаловедение-- Структурный анализ
Электроника-- Электронная микроскопия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеноструктурный анализ--рентгеноспектральный микроанализ--сканирующая микроскопия--гальваническое цинкование--цинковое покрытие--трещины--сварные соединения--цинкование--коррозия--усталостное разрушение--фреттинг--фрактография
Аннотация: Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)