Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>KL=СХЕМА ОТРАЖЕНИЯ<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.1(075)/Б 90
Автор(ы) : Бублик В. Т., Мильвидский А. М.
Заглавие : Методы исследования материалов и структур электроники [Электронный ресурс] : рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций
Выходные данные : М.: МИСИС, 2006
Колич.характеристики : on-line
Вид и объем ресурса: Электрон. текстовые дан.
Систем. требования: 128 MB RAM оперативной памяти
Примечания : Режим доступа : http://lib.sstu.ru/index.php/elmrazdel/melellib/3321-elreselibonlineКоличество одновременных доступов 15
Цена : 178.20 р.
ГРНТИ : 81.09.01.33 + 47.09.01.33
УДК : 620.18:621.38.0023(075.8)
ББК : 30.3 + 32.85
Предметные рубрики: Испытания материалов-- Рентгенография
Электроника-- Материалы электронной техники
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракционная теория--динамическая теория--формирование изображений--дефекты--дифракция--схемы дифракции--формирование контраста--схема отражения--брэгг--лауэ--исследования материалов--структура электроники
Аннотация: В книге изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции : схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций. Необходимо особо отметить, что подобного курса лекций, отвечающего современному уровню и объему данного раздела, в том числе читаемых для указанных специальностей в настоящее время не имеется.
Перейти к внешнему ресурсу: книга доступна в ЭБС "БиблиоТех" ID= 3321-elreselibonline (дата размещения: 28.03.2019)
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)