| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :3
 В других БД по вашему запросу найдено:ЭБС "ЛАНЬ" (1)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 669(083)/Э 47
Автор(ы) : Эллиот Р. П.
Заглавие : Структуры двойных сплавов: справочник/ Р. П. Эллиот. Т. 2 . -1-е изд., доп.
Параллельн. заглавия :Constitution jf Binary Alloys, First Supplement/ P. D. Elliott
Выходные данные : М.: Металлургия, 1970
Колич.характеристики :472 с.: ил., табл.; 22 см
Серия:
Примечания : Библиогр. в конце глав
Цена : 3.75 р.
ГРНТИ : 53.31.01.33 + 53.37.01.33
УДК : 669.017.12(083)
Предметные рубрики: Металлургия-- Сплавы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): металлографический анализ--рентгеновский анализ--тяжелые редкоземельные металлы--двойные сплавы--сплавы
Аннотация: В справочнике рассматривается структура двойных сплавов в металлургии.
Найти похожие

2.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 537/Р 24
Автор(ы) :
Заглавие : Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ = Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: в 2-х кн. : монография/ Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. Кн. 1
Выходные данные : М.: Мир , 1984
Колич.характеристики :303 с.: ил., табл.; 22 см
Примечания : Тит. л. парал. на англ. яз.
Цена : 3.00 р.
ГРНТИ : 29.05
УДК : 537.533.3+539.26
Предметные рубрики: Физика-- Электронные явления
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронные пучки--стереомикроскопия--рентгеноспектральные измерения--рентгеновский анализ--спектрометры
Аннотация: В первой книге монографии изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с дисперсией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ.
Найти похожие

3.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 537/Р 24
Автор(ы) :
Заглавие : Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ = Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: в 2 кн. : монография/ Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. Кн. 2
Выходные данные : М.: Мир, 1984
Колич.характеристики :348 с.: ил., табл.; 22 см
Примечания : Библиогр.: с. 318-341. - Тит. л. парал. на англ. яз.
Цена : 3.10 р.
ГРНТИ : 29.05
УДК : 537.533+543.422.8+539.26
Предметные рубрики: Физика-- Электронные явления
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): методы препарирования--микроозоление--рентгеновский анализ--термическое напыление--катодное распыление
Аннотация: Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника различных объектов для последующего их исследования в РЭМ РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических (влагосодержащих) образцов и т. д.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)