| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=ИССЛЕДОВАНИЯ ДЕФЕКТОВ<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.75/Т 28
Заглавие : Творческая лаборатория новатора : научное издание
Выходные данные : Л.: Лениздат, 1976
Колич.характеристики :112 с.: граф., рис., табл.; 20 см
Примечания : Библиогр.: с. 109-110
Цена : 0.27 р.
ГРНТИ : 55.01.21
УДК : 621.75
Предметные рубрики: Машиностроение-- Научные исследования
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): источники информации--изобретательство--новая технология--технологические разработки--теплообменные поверхности--исследования дефектов--поисковые исследования
Аннотация: Приводятся методические рекомендации по проведению исследований и разработок новой техники и технологии. Показываются возможности промышленного применения энергии теплового электрического взрыва, импульсных магнитных полей, ударных волн от искрового пробоя жидкостей, взрыва химических взрывчатых веществ.
Найти похожие

2.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 22.3
Автор(ы) :
Заглавие : Труды института общей физики/ ред. А. М. Прохоров. Т. 4: Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках
Выходные данные : Москва: Наука, 1986
Колич.характеристики :153 с
Серия:
Цена : Б.ц.
ББК : 22.3
Предметные рубрики: Физика-- Общие вопросы физики
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): двухфотонные переходы--диэлектрики--исследования дефектов--лазерные методы--научные труды--нерезонансное рассеяние--полупроводники--фотоионизация--фотопроводимость
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)