| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Пилянкевич, А. Н.$<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.7/А 69
Автор(ы) : Францевич И. Н., Пилянкевич А. Н., Лавренко В. А., Вольфсон А. И.
Заглавие : Анодные оксидные покрытия на металлах и анодная защита . -2-е изд.,перераб.и доп.
Выходные данные : Киев: Наукова думка, 1985
Колич.характеристики :280 с.: ил.; 22см
Цена : 3.50 р.
ГРНТИ : 55.22
УДК : 621.794.61:621.357.8
Предметные рубрики: Обработка материалов-- Нанесение покрытий
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): анодные пленки--нанесение покрытий--анодная защита--сплавы--плазмоэлектролитическое анодирование--поляризация--износоустойчивость--вакуумная техника--электрохимические конденсаторы--электролиты--пористость--прочность
Аннотация: Рассматриваются теоретические представления о формировании оксидных,анодных оксидных покрытий на металлах,получаемых путем химической оксидации,анодирования в растворах и в холодной плазме.
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537/П 32
Автор(ы) : Пилянкевич А. Н.
Заглавие : Просвечивающая электронная микроскопия : монография
Выходные данные : Киев: Наукова думка, 1975
Колич.характеристики :219 с.: ил., табл.; 22 см
Коллективы : Акад. наук Укр. ССР (Киев)
Серия: Наука и технический прогресс
Примечания : Библиогр.: с. 209-217 (280 назв.)
Цена : 1.70 р.
ГРНТИ : 29.35
УДК : 537.533.35
Предметные рубрики: Физика-- Физические основы электроники
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рассеяние электронов--дифференциальное сечение--кристаллическая решетка--геометрические погрешности--дефокусировка--дифракционные линии--электронные линзы--электронный микроскоп
Аннотация: В монографии обобщаются данные по аспектам количественной просвечивающей электронной микроскопии, выбор которых связан с направленностью исследований автора. Работа не претендует на полноту освещения всего комплекса проблем практики современной электронной микроскопии.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)