| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Орешкин, П. Т.$<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382/П 90
Заглавие : Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем : Материалы IV Всесоюзного научно-технического семинара
Выходные данные : Рязань: РРТИ, 1988
Колич.характеристики :160 с.: ил.; 21см
Коллективы : Рязанский радиотехн. ин-т
Цена : 0.85 р.
ГРНТИ : 47.33.37
УДК : 621.382.049.77:06
Предметные рубрики: Электроника-- Микроэлектроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электроника--микроэлектроника--диоды шотки--барьерные структуры--барьерные слои--магниточувствительность--фотоприемники
Аннотация: В сборнике рассмотрены пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537(075)/О-65
Автор(ы) : Орешкин П. Т.
Заглавие : Физика полупроводников и диэлектриков : учеб. пособие для вузов
Выходные данные : М.: Высшая школа, 1977
Колич.характеристики :448 с.: ил.; 20см
Цена : 1.04 р.
ГРНТИ : 29.19.31.01.33 + 29.19.33.01.33
УДК : 537.311.32(075)
ББК : 531.9
Предметные рубрики: Физика-- Полупроводники
Физика-- Диэлектрики
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводники--диэлектрики--физика полупроводников--микрочастицы--электропроводность--теория бора--фотопроводимость
Аннотация: В книге изложены: элементы зонной теории твердых тел; статистика электронов и дырок в полупроводниках; кинетические явления в полупроводниках; неравновесные носители заряда в полупроводниках и диэлектриках; явления в сильных электрических полях; поляризация в постоянном и переменном электрическом поле; диэлектрические потери; диэлектрическая дисперсия и др.
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.37/39/П 90
Заглавие : Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем : Материалы III Всесоюз. научно-техн. семинара, Рязань 14-16 июня 1984 г.
Выходные данные : Рязань: РРТИ, 1985
Колич.характеристики :175 с.: ил.; 19 см
Коллективы : Рязанский радиотехн. ин-т
Примечания : Библиогр. в конце ст.
Цена : 0.80 р.
ГРНТИ : 47.01.13
УДК : 621.37/39:06
Предметные рубрики: Электроника-- Микроэлектроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): релаксация заряда--спектроскопия--низкочастотный шум--надежность диодов--глубокие центры--анодное окисление--фотоэлектрические свойства
Аннотация: В сборнике рассмотрены пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем, явление резонансной релаксации заряда в физических барьерных слоях, установки резонансной спектроскопии глубоких центров, диоды Шоттки, фотоэлектрические свойства биполярного транзистора и др. вопросы.
Найти похожие
4.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 537/Ф 50
Заглавие : Физика полупроводников и микроэлектроника: межвуз. сб. науч. трудов/ Рязанский радиотехн. ин-т. Вып. 5
Выходные данные : Рязань: РРТИ, 1978
Колич.характеристики :136 с.: ил., табл.; 20 см
Коллективы : Рязанский радиотехн. ин-т, М-во высш. и сред. спец. образования РСФСР
Примечания : Библиогр. в конце ст.
Цена : 0.66 р.
ГРНТИ : 29.19.31 + 47.33
УДК : 537.311.322+621.382.049.77
Предметные рубрики: Физика-- Полупроводники
Электроника-- Микроэлектроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): релаксационные процессы--катодные пленки--магнитные свойства--барьерные слои--электретный эффект
Аннотация: В сборнике опубликованы статьи, обобщающие результаты научно-исследовательских работ, выполненных на кафедрах полупроводников и диэлектриков и микроэлектроники ряда вузов в области физики полупроводников, диэлектриков, микроэлектроники и полупроводниковых приборов.
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)