| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :2
 В других БД по вашему запросу найдено:ЭБС "IPRBOOKS" (2)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Концевой, Ю. А.$<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.315/К 56
Автор(ы) : Ковтонюк Н. Ф., Концевой Ю. А.
Заглавие : Измерения параметров полупроводниковых материалов : научное издание
Выходные данные : М.: Изд-во "Металлургия", 1970
Колич.характеристики :429 с.: ил.; 20 см
Примечания : Библиогр.: с. 412-426
Цена : 1.28 р.
ГРНТИ : 45.09
УДК : 621.315
Предметные рубрики: электротехника -- электротехнические материалы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводники--физические свойства--методы контроля--полупроводниковые материалы--методы измерений--удельное сопротивление--концентрация носителей зарядов--подвижность носителей зарядов--поверхностные свойства
Аннотация: В книге приведены методы исследования основных физических свойств полупроводников и методы контроля качества полупроводниковых материалов. Рассмотрены физические основы методов измерений, а также вопросы их экспериментального осуществления.
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382/К 65
Автор(ы) : Концевой Ю. А., Кудин В. Д.
Заглавие : Методы контроля технологии производства полупроводниковых приборов : научное издание
Выходные данные : М.: Энергия, 1973
Колич.характеристики :144 с.: ил.; 20 см
Серия: Б-ка радиотехнолога; вып. 2
Примечания : Библиогр.: с. 132-140 (134 назв.)
Цена : 0.40 р.
ГРНТИ : 47.33
УДК : 621.382.002
Предметные рубрики: Электроника-- Полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): диэлектрики--полупроводники--микроскопия--методы контроля приборов--рентгеновская микроскопия--технологические операции
Аннотация: В книге описываются электрические, оптические, рентгеновские и электронномикроскопические методы контроля технологии изготовления полупроводниковых приборов. Рассматриваются принципы организации технологического контроля при разработках и в производстве приборов.
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)