| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Аброян, И. А.$<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.38(075)/А 16
Автор(ы) : Аброян И. А., Андронов А. Н., Титов А. И.
Заглавие : Физические основы электронной и ионной технологии : учеб. пособие
Выходные данные : М.: Высшая школа, 1984
Колич.характеристики :320 с.: ил.; 20см
Цена : 0.90 р.
ГРНТИ : 29.35.01.33 + 31.15.33.01.33
УДК : 621.38:621.359(075.8)
ББК : 32.85
Предметные рубрики: Электроника-- Основы электроники
Электротехника-- Техническая электрохимия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): ионы--электроны--электронная технология--ионная технология--микросхемы--интегральные микросхемы
Аннотация: Изложены физические основы взаимодействия ионов и электронов с веществом; рассмотрены возможности применения этих процессов в технологии изготовления приборов, интегральных микросхем на основе полупроводниковых и пленочных материалов и др. Для студентов.
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.1/П 30
Автор(ы) : Петров Н. Н., Аброян И. А.
Заглавие : Диагностика поверхности с помощью ионных пучков
Выходные данные : Л.: Изд-во Ленингр. ун-та, 1977
Колич.характеристики :160 с.: ил.; 21 см
Коллективы : М-во высш. и сред. спец. образования РСФСР (Москва)
Примечания : Библиогр.: с. 151-159 (178 назв.)
Цена : 1.66 р.
ГРНТИ : 81.09
УДК : 620.179
Предметные рубрики: испытания материалов
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): ионная эмиссия--катодные распыления--рассеяние ионов--каналирование ионов--заряженные частицы--ядерные реакции--электромагнитное излучение--возбужденные атомы--ионно-электронная эмиссия--вторичная эмиссия--монокристаллы--резерфордовское рассеяние ионов
Аннотация: В монографии рассматриваются методы, применяемые для получения информации о поверхностном слое твердого тела и основанные на вторичных явлениях, которые сопровождают ионную бомбардировку.
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)