A845493-ОХФ Дюков, Валентин Георгиевич. Растровая оптическая микроскопия [Текст] / В. Г. Дюков, Ю. А. Кудеяров. - Москва : Наука, 1992. - 208 с. : ил. - (Современные физико-технические проблемы). - Библиогр. - ISBN 5-02-014374-X : 42.00 р.
Рубрики: техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): микроскопы -- оптическая микроскопия -- растровые оптические микроскопы Доп. точки доступа: Кудеяров, Юрий Алексеевич Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A979054-ОХФ Егорова, Ольга Владимировна. Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей [Текст] / О. В. Егорова. - 2-е изд., перераб. - Москва : Техносфера, 2007. - 357, [3] с. : рис., табл. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 355-357 (60 назв.). - ISBN 978-5-94836-129-1 (в пер.) : 325.00 р.
Рубрики: техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): микроскопы -- микроскопия -- методы исследования -- стандартизация -- контроль качества Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A979068-ОХФ Синдо, Дайзуке. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия [Текст] / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. - Москва : Техносфера, 2006. - 249, [7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-94836-064-4 (в пер.). - ISBN 4-431-70336-5 (англ.) : 110.00 р.
Рубрики: техника--оптические приборы радиотехника.электроника--электронные приборы Кл.слова (ненормированные): электронные микроскопы -- микроскопы -- электронная микроскопия -- рентгеновская спектроскопия -- трехмерная томография -- материаловедение -- ALCHEMI метод Доп. точки доступа: Оикава, Тецуо Иванов, С. А. Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
Учебная литература, A987216-ОХФ, A987217-ОХФ, A987218-ОХФ, Усанов, Дмитрий Александрович. Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения [Текст] / Д. А. Усанов. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2010. - 98, [2] с. - [Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области её применения] . - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-292-03937-2 : 98.21 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): СВЧ-микроскопы -- ближнеполевые СВЧ- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотехнологии -- линии передачи -- СВЧ-резонаторы Аннотация: В последние несколько десятилетий в практику вошли средства измерений, работающие в нанометровом масштабе: сканирующие туннельные, атомносиловые и СВЧ-ближнеполевые микроскопы. В настоящем издании рассмотрены принципы действия, основные характеристики, обсуждены достоинства и недостатки, приведены примеры применения различных типов ближнеполевых сканирующих СВЧ-микроскопов. Для ученых, преподавателей и студентов, занимающихся исследованиями в области нано- и биомедицинских технологий. Держатели документа: ЗНБ СГУ Экземпляры всего: 10 ОХФ (3), ОУОЕН (7) |