Учебная литература, A877535-ОХФ, A877536-ОХФ, A877537-ОХФ, A877538-ОХФ, A877539-ОХФ, Рыков, Сергей Александрович. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур [Текст] : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Техническая физика" / С. А. Рыков ; . - Санкт-Петербург : Наука, 2001. - 52 с. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр. - ISBN 5-02-024956-4 (в пер.) : 20.00 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы--полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): сканирующая туннельная микроскопия -- атомарно-силовые микроскопы -- полупроводниковые материалы -- наноструктуры Экземпляры всего: 12 ОХФ (5), ОУОЕН (7) |
Учебная литература, A962467-ОХФ, A962468-ОХФ Пантелеев, В. Г. Компьютерная микроскопия [Текст] / В. Г. Пантелеев, О. В. Егорова, Е. И. Клыкова. - Москва : Техносфера, 2005. - 303, [1] с. : рис. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 302-303. - ISBN 5-94836-025-3 (в пер.) : 228.14 р., 140.00 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): микроскопы -- компьютерная микроскопия -- анализаторы изображений -- материаловедение -- обработка изображений Доп. точки доступа: Егорова, Ольга Владимировна Клыкова, Е. И. Экземпляры всего: 5 ОУОЕН (3), ОХФ (2) |
Учебная литература, A987216-ОХФ, A987217-ОХФ, A987218-ОХФ, Усанов, Дмитрий Александрович. Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения [Текст] / Д. А. Усанов. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2010. - 98, [2] с. - [Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области её применения] . - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-292-03937-2 : 98.21 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): СВЧ-микроскопы -- ближнеполевые СВЧ- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотехнологии -- линии передачи -- СВЧ-резонаторы Аннотация: В последние несколько десятилетий в практику вошли средства измерений, работающие в нанометровом масштабе: сканирующие туннельные, атомносиловые и СВЧ-ближнеполевые микроскопы. В настоящем издании рассмотрены принципы действия, основные характеристики, обсуждены достоинства и недостатки, приведены примеры применения различных типов ближнеполевых сканирующих СВЧ-микроскопов. Для ученых, преподавателей и студентов, занимающихся исследованиями в области нано- и биомедицинских технологий. Держатели документа: ЗНБ СГУ Экземпляры всего: 10 ОХФ (3), ОУОЕН (7) |