A846871-ОХФ, A851449-ОХФ Колпаков, Андрей Васильевич. Дифракция рентгеновских лучей в сверхрешетках [Текст] : учеб. пособие / А. В. Колпаков, И. Р. Прудников ; . - Москва : Изд-во Моск. ун-та, 1992. - 128 с. : ил. - (Физика). - Библиогр. - ISBN 5-211-02871-6 : 7.15 р.
Рубрики: химия--кристаллография Кл.слова (ненормированные): рентгеновские лучи -- дифракция рентгеновских лучей -- сверхрешетки -- дифракция по Брэггу -- дифракция по Лауэ -- дифрактометрия -- рентгеновская двукристальная дифрактометрия -- кристаллы Доп. точки доступа: Прудников, Илья Рудольфович Экземпляры всего: 2 ОХФ (2) |
A907153-ОХФ, A907154-ОХФ Боуэн, Д. К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография [Текст] = High resolution X-RAY diffractometry and topography : монография / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер. - Санкт-Петербург : Наука, 2002. - 273, [7] с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-02-024963-7 (в пер.) : 105.00 р.
Рубрики: физика--физика твердого тела химия--кристаллография Кл.слова (ненормированные): рентгеновская дифрактометрия -- дифрактометрия -- рентгеновская топография -- топография -- дифракция рентгеновских лучей -- высокоразрешающая дифрактометрия -- дефекты в кристаллах -- синхротронное излучение -- эпитаксиальные слои -- материаловедение -- тонкие пленки -- рассеяния теория Доп. точки доступа: Таннер, Б. К. Экземпляры всего: 2 ОХФ (2) |
Учебная литература, A915720-ОХФ, A915721-ОХФ-ЧЗ-4, A915722-ОХФ-ЧЗ-4 Фетисов, Геннадий Владимирович. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ [Текст] : учеб. пособие / Г. В. Фетисов ; под ред. Л. А. Асланова. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2007. - 671, [1] с. : рис. - (Фундаментальная и прикладная физика). - Библиогр.: с. 636-663. - Предм. указ.: с. 664-671. - ISBN 978-5-9221-0805-8 (в пер.) : 495.00 р. Допущено УМО по клас. унив. образованию, в качестве учеб. пособия для студентов ст. курсов, обучающихся по специальности 020101 (011000) - Химия
Рубрики: физика--физика твердого тела химия--кристаллография Кл.слова (ненормированные): рентгеноструктурный анализ -- синхротронное излучение -- электромагнитное излучение -- рентгеновские лучи -- дифракция -- XAFS спектроскопия -- структурная химия Доп. точки доступа: Асланов, Л. А. Экземпляры всего: 5 ОУОЕН (2), ОХФ (1), ОХФ-ЧЗ-4 (2) |