A907153-ОХФ, A907154-ОХФ Боуэн, Д. К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография [Текст] = High resolution X-RAY diffractometry and topography : монография / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер. - Санкт-Петербург : Наука, 2002. - 273, [7] с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-02-024963-7 (в пер.) : 105.00 р.
Рубрики: физика--физика твердого тела химия--кристаллография Кл.слова (ненормированные): рентгеновская дифрактометрия -- дифрактометрия -- рентгеновская топография -- топография -- дифракция рентгеновских лучей -- высокоразрешающая дифрактометрия -- дефекты в кристаллах -- синхротронное излучение -- эпитаксиальные слои -- материаловедение -- тонкие пленки -- рассеяния теория Доп. точки доступа: Таннер, Б. К. Экземпляры всего: 2 ОХФ (2) |
11156/Р-ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) Латышева, Екатерина Викторовна. Резонансные СВЧ-методы многопараметровых измерений эпитаксиальных полупроводниковых структур с нанометровыми металлическими слоями [Рукопись] : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 01.04.03, 05.27.01 : защищена 18.11.2016 / Е. В. Латышева ; науч. рук.: Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль ; Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского". - Саратов : [б. и.], 2016. - 127 л. : ил., табл. + 1 автореф. - Библиогр.: л. 104-127 (184 назв.) . - ISBN [Б. и.] (в пер.) Приложение: Резонансные СВЧ-методы многопараметровых измерений эпитаксиальных полупроводниковых структур с нанометровыми металлическими слоями : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 01.04.03, 05.27.01 / Е. В. Латышева ; науч. рук.: Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль. - Саратов : [б. и.], 2016. - 22, [1] с. - ISBN [Б. и.]. Шифр 537.86(043.3)/Л 278
Рубрики: физика--электромагнетизм радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые структуры -- СВЧ-методы -- волноводно-диэлектрический резонанс -- удельная электропроводность -- многопараметровые измерения -- нанометровые металлические слои -- фотонные кристаллы -- спектры отражения -- эпитаксиальные слои. - Приложение:Резонансные СВЧ-методы многопараметровых измерений эпитаксиальных полупроводниковых структур с нанометровыми металлическими слоями : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 01.04.03, 05.27.01 / Е. В. Латышева ; науч. рук.: Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль Доп. точки доступа: Усанов, Дмитрий Александрович Скрипаль, Александр Владимирович Экземпляры всего: 1 ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) (1) |
A608109-ОХФ Латышева, Екатерина Викторовна. Резонансные СВЧ-методы многопараметровых измерений эпитаксиальных полупроводниковых структур с нанометровыми металлическими слоями [Текст] : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 01.04.03, 05.27.01 / Е. В. Латышева ; науч. рук.: Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль ; Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н. Г. Чернышевского". - Саратов : [б. и.], 2016. - 22, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22 (18 назв.). - ISBN [Б. и.] Издание является приложением к документу: Резонансные СВЧ-методы многопараметровых измерений эпитаксиальных полупроводниковых структур с нанометровыми металлическими слоями : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 01.04.03 : защищена 18.11.2016, 05.27.01 / Е. В. Латышева ; науч. рук.: Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль. - Саратов : [б. и.], 2016. - 127. - ISBN [Б. и.]. Шифр 537.86(043.3)/Л 278
Рубрики: физика--электромагнетизм Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые структуры -- СВЧ-методы -- волноводно-диэлектрический резонанс -- удельная электропроводность -- многопараметровые измерения -- нанометровые металлические слои -- фотонные кристаллы -- спектры отражения -- эпитаксиальные слои. - Является приложением к Резонансные СВЧ-методы многопараметровых измерений эпитаксиальных полупроводниковых структур с нанометровыми металлическими слоями : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 01.04.03 : защищена 18.11.2016, 05.27.01 / Е. В. Латышева ; науч. рук.: Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль\par Доп. точки доступа: Усанов, Дмитрий Александрович Скрипаль, Александр Владимирович Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |