A846414-ОХФ Еловиков, Сергей Сергеевич. Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок [Текст] : [учеб. пособие] / С. С. Еловиков ; . - Москва : Изд-во Моск. ун-та, 1992. - 94 с. : ил. - (Физика). - Библиогр. - ISBN 5-211-02904-6 : 5.50 р.
Рубрики: физика--физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): твердые тела -- тонкие пленки -- электронная спектроскопия -- энергоанализ заряженных частиц -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A876268-ОХФ Синицин, Николай Иванович Практикум по волновой электронике и микроэлектронике [Текст] / Н. И. Синицин, Г. В. Торгашов, И. Г. Торгашов. - Саратов : Издательство Саратовского университета. Ч. IV : Технология микроэлектроники. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2000. - 42, [2] с. - ISBN 5-292-02562-3 : 10.00 р. На обл. авт. не указаны
Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): микроэлектроника -- сканирующая туннельная микроскопия -- пленочная технология Доп. точки доступа: Торгашов, Г. В. Торгашов, И. Г. Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
Учебная литература, A877535-ОХФ, A877536-ОХФ, A877537-ОХФ, A877538-ОХФ, A877539-ОХФ, Рыков, Сергей Александрович. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур [Текст] : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Техническая физика" / С. А. Рыков ; . - Санкт-Петербург : Наука, 2001. - 52 с. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр. - ISBN 5-02-024956-4 (в пер.) : 20.00 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы--полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): сканирующая туннельная микроскопия -- атомарно-силовые микроскопы -- полупроводниковые материалы -- наноструктуры Экземпляры всего: 12 ОХФ (5), ОУОЕН (7) |
Учебная литература, A961032-ОХФ-ЧЗ-4, A961033-ОХФ, A961034-ОХФ Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2004. - 143, [1] с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 153.32 р., 153.89 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия Экземпляры всего: 15 ОУОЕН (12), ОХФ-ЧЗ-4 (1), ОХФ (2) |
A964843-ОХФ, A965156-ОХФ, A965157-ОХФ Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2005. - 143, [1] с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 167.00 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия Экземпляры всего: 3 ОХФ (3) |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Kaupp, Gerd. Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Электронный ресурс] / G. Kaupp. - Электрон. текстовые дан. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006?. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - (NanoScience and Technology) (Springer eBook Collection). - ISBN 9783540284727. - ISBN 9783540284727 (ошибоч.) (в кор.) : 630.00 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): микроскопы -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия -- оптическая микроскопия -- нанотехнологии -- наноцарапины Экземпляры всего: 1 ОХФ-МЕДИАЗАЛ (1) |
9534/Р-ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) Lõhmus, Rünno. Application of Novel Hybrid Methods in SPM Studies of Nanostructural Materials [Рукопись] : Dis. for the Degree of Doctor of Philosophy in physics (experimental physics) / R. Lõhmus ; superv.: R. Kink, L. Pung. - Tartu : Tartu Univ. Press, 2002. - 93, [3] p. - (Dissertationes Physicae Univ. Tartuensis ; 39). - Bibliogr. at the end of the chapters. - ISSN 1406-0647. - ISBN 9985-56-695-5 : [б. ц.]
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): наноструктурированные материалы -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия Доп. точки доступа: Kink, Rein Pung, Lembit Экземпляры всего: 1 ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) (1) |
Учебная литература, A987216-ОХФ, A987217-ОХФ, A987218-ОХФ, Усанов, Дмитрий Александрович. Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения [Текст] / Д. А. Усанов. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2010. - 98, [2] с. - [Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области её применения] . - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-292-03937-2 : 98.21 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): СВЧ-микроскопы -- ближнеполевые СВЧ- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотехнологии -- линии передачи -- СВЧ-резонаторы Аннотация: В последние несколько десятилетий в практику вошли средства измерений, работающие в нанометровом масштабе: сканирующие туннельные, атомносиловые и СВЧ-ближнеполевые микроскопы. В настоящем издании рассмотрены принципы действия, основные характеристики, обсуждены достоинства и недостатки, приведены примеры применения различных типов ближнеполевых сканирующих СВЧ-микроскопов. Для ученых, преподавателей и студентов, занимающихся исследованиями в области нано- и биомедицинских технологий. Держатели документа: ЗНБ СГУ Экземпляры всего: 10 ОХФ (3), ОУОЕН (7) |
A930356-ОХФ-СБО Справочник по микроскопии для нанотехнологии [Текст] = Handbook of microscopy for nanotechnology : пер. с англ. / Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям ; под ред.: Н. Яо, Ч. Л. Ван ; науч. ред. рус. изд. И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 712 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники / гл. ред. А.Р. Хохлов). - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.) : 600.00 р.
Рубрики: техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): микроскопия -- оптическая микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая зондовая микроскопия -- масс-спектрометрия -- атомно-зондовая томография -- электронно-лучевая литография -- электронная микроскопия -- электронная нанокристаллография -- электронная голография -- нанотехнологии -- наноразмерные материалы -- наноизмерения Доп. точки доступа: Яо, Нан Ван, Чжун Лин Яминский, И. В. Экземпляры всего: 1 ОХФ-СБО (1) |