Учебная литература, A961032-ОХФ-ЧЗ-4, A961033-ОХФ, A961034-ОХФ Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2004. - 143, [1] с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 153.32 р., 153.89 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия Экземпляры всего: 15 ОУОЕН (12), ОХФ-ЧЗ-4 (1), ОХФ (2) |
A964843-ОХФ, A965156-ОХФ, A965157-ОХФ Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2005. - 143, [1] с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 167.00 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия Экземпляры всего: 3 ОХФ (3) |
9534/Р-ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) Lõhmus, Rünno. Application of Novel Hybrid Methods in SPM Studies of Nanostructural Materials [Рукопись] : Dis. for the Degree of Doctor of Philosophy in physics (experimental physics) / R. Lõhmus ; superv.: R. Kink, L. Pung. - Tartu : Tartu Univ. Press, 2002. - 93, [3] p. - (Dissertationes Physicae Univ. Tartuensis ; 39). - Bibliogr. at the end of the chapters. - ISSN 1406-0647. - ISBN 9985-56-695-5 : [б. ц.]
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): наноструктурированные материалы -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия Доп. точки доступа: Kink, Rein Pung, Lembit Экземпляры всего: 1 ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) (1) |
A982051-ОХФ Богатство наномира. Фоторепортаж из глубин вещества [Текст] / Е. А. Гудилин [и др.] ; под ред. Ю. Д. Третьякова. - Москва : БИНОМ. Лаб. знаний, 2009. - 171, [5] с. : цв. ил. - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0108-9 (в пер.) : 126.25 р.
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- наномир -- наноструктуры -- нанотрубки -- квантовые точки -- фотонные кристаллы -- высокотемпературные сверхпроводники -- магнитные материалы -- сканирующая зондовая микроскопия Доп. точки доступа: Гудилин, Е. А. Гаршев, А. В. Баранчиков, А. Е. Абрамова, В. В. Третьяков, Ю. Д. Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
Учебная литература, A985344-ОХФ, A985345-ОХФ-ЧЗ-4, A985346-ОХФ Получение и исследование наноструктур. Лабораторный практикум по нанотехнологиям [Текст] / под ред. А. С. Сигова. - Москва : БИНОМ. Лаб. знаний, 2010. - 146, [6] с. : рис. - (Нанотехнологии). - Библиогр.: с. 143-146. - ISBN 978-5-9963-0028-4 (в пер.) : 150.90 р., 220.00 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): наноструктуры -- нанотехнологии -- наноразмерные структуры -- сканирующая зондовая микроскопия -- оптические методы -- наночастицы -- нанокомпозиты Доп. точки доступа: Сигов, А. С. Экземпляры всего: 70 ОУОЕН (67), ОХФ (2), ОХФ-ЧЗ-4 (1) |
A606806-ОХФ Шарипов, Талгат Ишмухамедович. Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. рук. Р. З. Бахтизин ; ГОУ ВПО "Башкирский государственный университет". - Саратов : [б. и.], 2011. - 22, [1] с. : рис. - Библиогр.: с. 19-20. - ISBN [Б. и.] Издание является приложением к документу: Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов. - Саратов : [б. и.], 2011. - 111. - ISBN [Б. и.]. Шифр 895198
Рубрики: биология--биофизика Кл.слова (ненормированные): ДНК -- ДНК-чипы -- биосенсоры -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- иммобилизация. - Является приложением к Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов\par Доп. точки доступа: Бахтизин, Рауф Загидович Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
10520/Р-ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) Шарипов, Талгат Ишмухамедович. Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости [Рукопись] : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 : защищена 15.03.2011 / Т. И. Шарипов ; науч. рук. Р. З. Бахтизин ; Башк. гос. ун-т. - Саратов : [б. и.], 2011. - 111 л. : рис. + 1 автореф. - Библиогр.: л. 99-110 (110 назв.). - ISBN [Б. и.] (в пер.) Приложение: Исследование методами СЗМ иммобилизации молеку ДНК и оценка их проводимости : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. консультант Р. З. Бахтизин. - Саратов : [б. и.], 2011. - 22, [1] с. - ISBN [Б. и.]. Шифр 955234
Рубрики: биология--биофизика Кл.слова (ненормированные): ДНК -- ДНК-чипы -- биосенсоры -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- иммобилизация. - Приложение:Исследование методами СЗМ иммобилизации молеку ДНК и оценка их проводимости : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. консультант Р. З. Бахтизин Доп. точки доступа: Бахтизин, Рауф Загидович Экземпляры всего: 1 ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) (1) |
Учебная литература, A988555-ОХФ, A988556-ОХФ, A996095-ОХФ, Лич, Ричард К.. Инженерные основы измерений нанометровой точности [Текст] : учеб. пособие / Р. К. Лич ; пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Издательский дом "Интеллект", 2012. - 400 с. : ил. - Библиогр.: с. 390-393 (55 назв.). - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.) : 1246.30 р., 1589.00 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника метрология.стандартизация--метрология Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- инженерная метрология -- нанометрология -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- метрология поверхностей -- сканирующая зондовая микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- координатная метрология -- измерения массы -- измерения силы Доп. точки доступа: Заблоцкий, А. В. Экземпляры всего: 32 ОХФ (3), ОУОЕН (29) |
A917730-ОХФ-СБО, A918074-ОХФ Справочник Шпрингера по нанотехнологиям [Текст] : в 3 т. / Федер. гос. учреждение Науч.-произв. комплекс "Технологический центр" Моск. гос. ин-та электронной техники ; под ред. Б. Бхушана ; пер. с англ. под общ. ред. А. Н. Саурова. - 2-е изд. - Москва : Техносфера, 2010. - (Мир материалов и технологий ; 6 ; 30). - ISBN 978-5-94836-261-8. Т. 2. - Москва : Техносфера, 2010. - 1040 с. : ил. - ). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-263-2 (т. II) : 1022.00 р., 2080.10 р.
Рубрики: техника--материаловедение радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- материаловедение -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотрибология -- нанореология -- адгезия -- тонкие пленки -- биологическая нанотехнология Доп. точки доступа: Бхушан, Б. \\ред.\\ Сауров, А. Н. \\ред. пер.\\ Экземпляры всего: 2 ОХФ-СБО (1), ОХФ (1) |
11032/Р-ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) Ерохин, Павел Сергеевич. Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы [Рукопись] : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 : защищена 28.04.2015 / П. С. Ерохин ; науч. рук. В. В. Тучин ; Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского". - Саратов : [б. и.], 2015. - 127 л. + 1 автореф. - Библиогр.: л. 104-127 (209 назв.). - ISBN [Б. и.] (в пер.) Приложение: Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин. - Саратов : [б. и.], 2015. - 22, [1] с. - ISBN [Б. и.]. Шифр 579(043.3)/Е 782
Рубрики: биология--микробиология Кл.слова (ненормированные): микроорганизмы -- бактериальные клетки -- микробные сообщества -- биопленки -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- обработка изображений -- сканирующая зондовая микроскопия. - Приложение:Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин Доп. точки доступа: Тучин, Валерий Викторович Экземпляры всего: 1 ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) (1) |
A607872-ОХФ Ерохин, Павел Сергеевич. Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы [Текст] : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин ; науч. рук. В. В. Тучин ; Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского". - Саратов : [б. и.], 2015. - 22, [1] с. - Библиогр.: с. 20-22 (22 назв.). - ISBN [Б. и.] Издание является приложением к документу: Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин. - Саратов : [б. и.], 2015. - 127. - ISBN [Б. и.]. Шифр /Е 782
Рубрики: биология--микробиология Кл.слова (ненормированные): микроорганизмы -- бактериальные клетки -- микробные сообщества -- биопленки -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- обработка изображений -- сканирующая зондовая микроскопия. - Является приложением к Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин\par Доп. точки доступа: Тучин, Валерий Викторович Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A996007-ОХФ Сканирующая зондовая нанотомография [Текст] / О. И. Агапова [и др.]. - Москва : Техносфера, 2016. - 183, [1] с. : ил., граф. - (Мир физики и техники ; 35). - Библиогр.: с. 128-135 (107 назв.). - ISBN 978-5-94836-456-8 (в пер.) : 569.80 р.
Рубрики: медицина--патология Кл.слова (ненормированные): сканирующая зондовая микроскопия -- сканирующая зондовая нанотомография (СЗНТ) -- томография -- сканирующая зондовая крионанотомография -- биологические материалы -- биологические объекты -- трехмерные структуры -- биомедицина Доп. точки доступа: Агапова, Ольга Игоревна Ефимов, Антон Евгеньевич Соколов, Дмитрий Юрьевич Агапов, Игорь Иванович Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A996012-ОХФ Нанотехнологии в электронике - 3.1 [Текст] / под ред. Ю. А. Чаплыгина. - Москва : Техносфера, 2016. - 479, [1] с. : ил. - (Мир электроники ; 53). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-423-0 (в пер.) : 1170.40 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электроника Кл.слова (ненормированные): электроника -- нанотехнологии -- моделирование -- наноэлектроника -- углеродные нанотрубы -- сегнетокерамика -- пьезоэлектрические материалы -- сканирующая зондовая микроскопия -- наноструктуры -- сенсоры -- микроэлектроника -- сверхбольшие интегральные схемы (СБИС) Доп. точки доступа: Чаплыгин, Ю. А. Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A996717-ОХФ Карпасюк, Владимир Корнильевич. Зондирующие методы исследований в материаловедении [Текст] : учебное пособие / В. К. Карпасюк, А. М. Смирнов ; ФГБОУ ВПО "Астраханский государственный университет", Центр Функцион. Магнит. Материалов. - Астрахань : Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014. - 214, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 209-214 (91 назв.). - ISBN 978-5-91910-342-4 : 293.00 р.
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- зондирование -- структурный анализ -- ферромагнитный резонанс -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР) -- рентгеноструктурный анализ -- нейтронография -- электронография -- электронная микроскопия -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- масс-спектрометрия -- сканирующая зондовая микроскопия Доп. точки доступа: Смирнов, Андрей Михайлович Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A930356-ОХФ-СБО Справочник по микроскопии для нанотехнологии [Текст] = Handbook of microscopy for nanotechnology : пер. с англ. / Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям ; под ред.: Н. Яо, Ч. Л. Ван ; науч. ред. рус. изд. И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 712 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники / гл. ред. А.Р. Хохлов). - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.) : 600.00 р.
Рубрики: техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): микроскопия -- оптическая микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая зондовая микроскопия -- масс-спектрометрия -- атомно-зондовая томография -- электронно-лучевая литография -- электронная микроскопия -- электронная нанокристаллография -- электронная голография -- нанотехнологии -- наноразмерные материалы -- наноизмерения Доп. точки доступа: Яо, Нан Ван, Чжун Лин Яминский, И. В. Экземпляры всего: 1 ОХФ-СБО (1) |