A846414-ОХФ Еловиков, Сергей Сергеевич. Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок [Текст] : [учеб. пособие] / С. С. Еловиков ; . - Москва : Изд-во Моск. ун-та, 1992. - 94 с. : ил. - (Физика). - Библиогр. - ISBN 5-211-02904-6 : 5.50 р.
Рубрики: физика--физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): твердые тела -- тонкие пленки -- электронная спектроскопия -- энергоанализ заряженных частиц -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A996717-ОХФ Карпасюк, Владимир Корнильевич. Зондирующие методы исследований в материаловедении [Текст] : учебное пособие / В. К. Карпасюк, А. М. Смирнов ; ФГБОУ ВПО "Астраханский государственный университет", Центр Функцион. Магнит. Материалов. - Астрахань : Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014. - 214, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 209-214 (91 назв.). - ISBN 978-5-91910-342-4 : 293.00 р.
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- зондирование -- структурный анализ -- ферромагнитный резонанс -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР) -- рентгеноструктурный анализ -- нейтронография -- электронография -- электронная микроскопия -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- масс-спектрометрия -- сканирующая зондовая микроскопия Доп. точки доступа: Смирнов, Андрей Михайлович Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
Учебная литература, A996967-ОХФ, A996968-ОХФ, A996969-ОХФ, Методы и средства контроля процессов и структур in situ [Текст] : учебное пособие для бакалавров, магистрантов и аспирантов, обучающихся по направлениям "Физика и астрономия", "Информатика и вычислительная техника", "Электроника, радиотехника и системы связи", "Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии", "Технологии материалов", "Управление в технических системах" : в 2 ч. / Сарат. нац. исслед. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2014 - 2016. - ISBN 978-5-292-04282-2. Ч. 2 / Д. И. Биленко [и др.] ; под общ. ред. Д. И. Биленко и С. Б. Венига. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2016. - 114, [2] с. : рис. - (Материаловедение и технология новых материалов / гл. ред. С. Б. Вениг). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-292-04393-5 (ч. 2) : 324.31 р., 324.32 р.
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): наноструктуры -- in situ -- многопараметровые измерения -- спектральная эллипсометрия -- спектрофотометрия -- массоперенос -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- материаловедение -- нанотехнологии -- обработка данных -- контроль Доп. точки доступа: Биленко, Давид Исаакович Вениг, Сергей Борисович Терин, Денис Владимирович Белобровая, Ольга Яковлевна Биленко, Давид Исаакович Вениг, Сергей Борисович Экземпляры всего: 38 ОХФ (3), ОУОЕН (35) |