A845493-ОХФ Дюков, Валентин Георгиевич. Растровая оптическая микроскопия [Текст] / В. Г. Дюков, Ю. А. Кудеяров. - Москва : Наука, 1992. - 208 с. : ил. - (Современные физико-технические проблемы). - Библиогр. - ISBN 5-02-014374-X : 42.00 р.
Рубрики: техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): микроскопы -- оптическая микроскопия -- растровые оптические микроскопы Доп. точки доступа: Кудеяров, Юрий Алексеевич Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
Учебная литература, A961032-ОХФ-ЧЗ-4, A961033-ОХФ, A961034-ОХФ Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2004. - 143, [1] с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 153.32 р., 153.89 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия Экземпляры всего: 15 ОУОЕН (12), ОХФ-ЧЗ-4 (1), ОХФ (2) |
Учебная литература, A908959-ОХФ, A908960-ОХФ-ЧЗ-4, A908961-ОХФ-ЧЗ-4, Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова ; доп. О. В. Егоровой. - Москва : Техносфера, 2004. - 377, [7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.). - ISBN 0 471 98501 5 (англ.) : 191.88 р., 192.59 р., 139.00 р.
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- микроструктуры -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ -- химический анализ Доп. точки доступа: Каплан, У. Баженов, С. Л. Егорова, О. В. Экземпляры всего: 25 ОУОЕН (22), ОХФ (1), ОХФ-ЧЗ-4 (2) |
A964843-ОХФ, A965156-ОХФ, A965157-ОХФ Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2005. - 143, [1] с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 167.00 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия Экземпляры всего: 3 ОХФ (3) |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Kaupp, Gerd. Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Электронный ресурс] / G. Kaupp. - Электрон. текстовые дан. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006?. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - (NanoScience and Technology) (Springer eBook Collection). - ISBN 9783540284727. - ISBN 9783540284727 (ошибоч.) (в кор.) : 630.00 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): микроскопы -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия -- оптическая микроскопия -- нанотехнологии -- наноцарапины Экземпляры всего: 1 ОХФ-МЕДИАЗАЛ (1) |
A983395-ОХФ Методы и средства микроскопии [Текст] : метод. указания / ГОУ ВПО "Уральский государственный технический университет - УПИ" ; сост.: Б. В. Шульгин [и др.] ; науч. ред. А. В. Кружалов. - Екатеринбург : Изд-во УМЦ УПИ, 2005. - 187, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 186-187 (25 назв.) . - ISBN [Б. и.] : 65.00 р.
Рубрики: техника--оптические приборы--материаловедение Кл.слова (ненормированные): микроскопия -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- зондовая микроскопия -- обработка изображений -- наночастицы -- биологические объекты Доп. точки доступа: Шульгин, Борис Владимирович Анипко, Алла Владимировна Антонов, Илья Витальевич Гайдуков, Владимир Владимирович Кружалов, А. В. Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A917860-ОХФ Сердюк, Игорь Методы в молекулярной биофизике. Структура. Функция. Динамика [Текст] : учебное пособие : в 2 т. / И. Сердюк, Н. Заккаи, Дж. Заккаи ; [науч. ред. И. Сердюк]. - Москва : КДУ : Благотворительный фонд "Вольное дело" [изд.] : Компания "Базовый элемент" [изд.], 2009 - 2010. Т. 2. - Москва : КДУ : Благотворительный фонд "Вольное дело" [изд.] : Компания "Базовый элемент" [изд.], 2010. - 734, [2] с. : цв. ил. - ). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-98227-454-0 (Том 2) (в пер.) : 1339.00 р.
Рубрики: биология--биофизика Кл.слова (ненормированные): молекулярная биофизика -- биологические макромолекулы -- молекулярная биология -- оптическая микроскопия -- рентгеновская дифракция -- нейтронная дифракция -- электронная дифракция -- спектроскопия -- молекулярная динамика -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР) Доп. точки доступа: Заккаи, Натан Заккаи, Джозеф Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A930356-ОХФ-СБО Справочник по микроскопии для нанотехнологии [Текст] = Handbook of microscopy for nanotechnology : пер. с англ. / Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям ; под ред.: Н. Яо, Ч. Л. Ван ; науч. ред. рус. изд. И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 712 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники / гл. ред. А.Р. Хохлов). - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.) : 600.00 р.
Рубрики: техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): микроскопия -- оптическая микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая зондовая микроскопия -- масс-спектрометрия -- атомно-зондовая томография -- электронно-лучевая литография -- электронная микроскопия -- электронная нанокристаллография -- электронная голография -- нанотехнологии -- наноразмерные материалы -- наноизмерения Доп. точки доступа: Яо, Нан Ван, Чжун Лин Яминский, И. В. Экземпляры всего: 1 ОХФ-СБО (1) |