A860894-ОХФ, A860895-ОХФ, A860896-ОХФ Аукуционек, Сергей Павлович. Теория перехода к рынку [Текст] / С. П. Аукуционек. - Москва : SvR-Аргус, 1995. - 103, [1] с. : ил. - ISBN 5-86949-018-9 : 7000.00 р. На тит. л. и обл.: Прогр."Обновление гуманитар. образования в России"
Рубрики: экономика--экономические науки Кл.слова (ненормированные): рынок -- переход к рынку -- спрос и предложение -- микроанализ -- плановая экономика -- рыночная экономика -- экономические кризисы -- рыночная система -- равновесный анализ -- экономические стимулы Экземпляры всего: 3 ОХФ (3) |
A52943-ОХФ, A64423-ОХФ, A879449-ОХФ Менке, Г. Введение в лазерный эмиссионный микроспектральный анализ [Текст] = Einfuhrung in die Laser-Mikro-Emissionsspektral-Analyse / Г. Менке, Л. Менке. - Москва : Мир, 1968. - 250, [2] с. : ил. - Библиогр. - ISBN [Б. и.] (в пер.) : 30.00 р.
Рубрики: химия--аналитическая химия Кл.слова (ненормированные): спектральный анализ -- лазерный микроспектральный эмиссионный анализ -- лазеры -- микроанализ -- лазерная спектроскопия Доп. точки доступа: Менке, Л. Экземпляры всего: 3 ОХФ (3) |
8380/Р-ОХФ Бурмистрова, Наталия Анатольевна. Влияние поверхностно-активных веществ на физико-химические свойства редокс-реагентов ряда дифениламина [Рукопись] : дис. на соиск. учен. степ. канд. хим. наук / Н. А. Бурмистрова ; . - Саратов : [б. и.], 2002. - 181 л. с. + 1 автореф. - Библиогр. - ISBN [Б. и.] (в пер.) : [б. ц.]
Рубрики: химия--аналитическая химия--неорганическая химия--органическая химия Кл.слова (ненормированные): дифениламины -- поверхностно-активные вещества (ПАВ) -- кислотно-основное равновесие -- каталитическое окисление -- некаталитическое окисление -- металлы платиновой группы -- микроанализ -- кинетические методы анализа -- рутений -- палладий -- иридий Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
Учебная литература, A908959-ОХФ, A908960-ОХФ-ЧЗ-4, A908961-ОХФ-ЧЗ-4, Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова ; доп. О. В. Егоровой. - Москва : Техносфера, 2004. - 377, [7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.). - ISBN 0 471 98501 5 (англ.) : 191.88 р., 192.59 р., 139.00 р.
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- микроструктуры -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ -- химический анализ Доп. точки доступа: Каплан, У. Баженов, С. Л. Егорова, О. В. Экземпляры всего: 25 ОУОЕН (22), ОХФ (1), ОХФ-ЧЗ-4 (2) |