A907153-ОХФ, A907154-ОХФ Боуэн, Д. К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография [Текст] = High resolution X-RAY diffractometry and topography : монография / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер. - Санкт-Петербург : Наука, 2002. - 273, [7] с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-02-024963-7 (в пер.) : 105.00 р.
Рубрики: физика--физика твердого тела химия--кристаллография Кл.слова (ненормированные): рентгеновская дифрактометрия -- дифрактометрия -- рентгеновская топография -- топография -- дифракция рентгеновских лучей -- высокоразрешающая дифрактометрия -- дефекты в кристаллах -- синхротронное излучение -- эпитаксиальные слои -- материаловедение -- тонкие пленки -- рассеяния теория Доп. точки доступа: Таннер, Б. К. Экземпляры всего: 2 ОХФ (2) |