Учебная литература, A877535-ОХФ, A877536-ОХФ, A877537-ОХФ, A877538-ОХФ, A877539-ОХФ, Рыков, Сергей Александрович. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур [Текст] : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Техническая физика" / С. А. Рыков ; . - Санкт-Петербург : Наука, 2001. - 52 с. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр. - ISBN 5-02-024956-4 (в пер.) : 20.00 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы--полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): сканирующая туннельная микроскопия -- атомарно-силовые микроскопы -- полупроводниковые материалы -- наноструктуры Экземпляры всего: 12 ОХФ (5), ОУОЕН (7) |
Учебная литература, A987818-ОХФ, A987819-ОХФ, A988559-ОХФ, Плескова, Светлана Николаевна. Атомно-силовая микроскопия в биологических и медицинских исследованиях [Текст] : учебное пособие / С. Н. Плескова. - Долгопрудный : Издательский дом "Интеллект", 2011. - 183, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 173-183. - ISBN 978-5-91559-108-9 : 512.50 р., 566.50 р.
Рубрики: биология--биология Кл.слова (ненормированные): атомарно-силовые микроскопы -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- биология -- медицина Экземпляры всего: 15 ОХФ (3), ОУОЕН (12) |