Учебная литература, A996967-ОХФ, A996968-ОХФ, A996969-ОХФ, Методы и средства контроля процессов и структур in situ [Текст] : учебное пособие для бакалавров, магистрантов и аспирантов, обучающихся по направлениям "Физика и астрономия", "Информатика и вычислительная техника", "Электроника, радиотехника и системы связи", "Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии", "Технологии материалов", "Управление в технических системах" : в 2 ч. / Сарат. нац. исслед. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2014 - 2016. - ISBN 978-5-292-04282-2. Ч. 2 / Д. И. Биленко [и др.] ; под общ. ред. Д. И. Биленко и С. Б. Венига. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2016. - 114, [2] с. : рис. - (Материаловедение и технология новых материалов / гл. ред. С. Б. Вениг). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-292-04393-5 (ч. 2) : 324.31 р., 324.32 р.
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): наноструктуры -- in situ -- многопараметровые измерения -- спектральная эллипсометрия -- спектрофотометрия -- массоперенос -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- материаловедение -- нанотехнологии -- обработка данных -- контроль Доп. точки доступа: Биленко, Давид Исаакович Вениг, Сергей Борисович Терин, Денис Владимирович Белобровая, Ольга Яковлевна Биленко, Давид Исаакович Вениг, Сергей Борисович Экземпляры всего: 38 ОХФ (3), ОУОЕН (35) |