Учебная литература, A961032-ОХФ-ЧЗ-4, A961033-ОХФ, A961034-ОХФ Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2004. - 143, [1] с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 153.32 р., 153.89 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия Экземпляры всего: 15 ОУОЕН (12), ОХФ-ЧЗ-4 (1), ОХФ (2) |
A964843-ОХФ, A965156-ОХФ, A965157-ОХФ Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2005. - 143, [1] с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 167.00 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия Экземпляры всего: 3 ОХФ (3) |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Kaupp, Gerd. Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Электронный ресурс] / G. Kaupp. - Электрон. текстовые дан. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006?. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - (NanoScience and Technology) (Springer eBook Collection). - ISBN 9783540284727. - ISBN 9783540284727 (ошибоч.) (в кор.) : 630.00 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): микроскопы -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия -- оптическая микроскопия -- нанотехнологии -- наноцарапины Экземпляры всего: 1 ОХФ-МЕДИАЗАЛ (1) |
Учебная литература, A913061-ОХФ, A916120-ОХФ Кларк, Эшли Р.. Микроскопические методы исследования материалов [Текст] / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженова ; Ин-т синтет. полимер. материалов им. Е. Н. Ениколопова РАН. - Москва : Техносфера, 2007. - 371, [5] с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-94836-121-5 (в пер.). - ISBN 1-85573-587-3 (англ.) : 175.00 р., 357.50 р.
Рубрики: техника--материаловедение--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- микроскопы -- микроскопия -- микроскопические методы -- конструкционные материалы -- фотоника -- цифровые изображения -- микроскопия отраженного света -- конфокальная микроскопия -- рамановская микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- рентгеновская микроскопия -- томография -- сканирующая акустическая микроскопия Доп. точки доступа: Эберхардт, Колин Н. Баженов, С. Л. Экземпляры всего: 7 ОУОЕН (5), ОХФ (2) |
9534/Р-ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) Lõhmus, Rünno. Application of Novel Hybrid Methods in SPM Studies of Nanostructural Materials [Рукопись] : Dis. for the Degree of Doctor of Philosophy in physics (experimental physics) / R. Lõhmus ; superv.: R. Kink, L. Pung. - Tartu : Tartu Univ. Press, 2002. - 93, [3] p. - (Dissertationes Physicae Univ. Tartuensis ; 39). - Bibliogr. at the end of the chapters. - ISSN 1406-0647. - ISBN 9985-56-695-5 : [б. ц.]
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): наноструктурированные материалы -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия Доп. точки доступа: Kink, Rein Pung, Lembit Экземпляры всего: 1 ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) (1) |
A606806-ОХФ Шарипов, Талгат Ишмухамедович. Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. рук. Р. З. Бахтизин ; ГОУ ВПО "Башкирский государственный университет". - Саратов : [б. и.], 2011. - 22, [1] с. : рис. - Библиогр.: с. 19-20. - ISBN [Б. и.] Издание является приложением к документу: Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов. - Саратов : [б. и.], 2011. - 111. - ISBN [Б. и.]. Шифр 895198
Рубрики: биология--биофизика Кл.слова (ненормированные): ДНК -- ДНК-чипы -- биосенсоры -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- иммобилизация. - Является приложением к Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов\par Доп. точки доступа: Бахтизин, Рауф Загидович Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
10520/Р-ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) Шарипов, Талгат Ишмухамедович. Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости [Рукопись] : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 : защищена 15.03.2011 / Т. И. Шарипов ; науч. рук. Р. З. Бахтизин ; Башк. гос. ун-т. - Саратов : [б. и.], 2011. - 111 л. : рис. + 1 автореф. - Библиогр.: л. 99-110 (110 назв.). - ISBN [Б. и.] (в пер.) Приложение: Исследование методами СЗМ иммобилизации молеку ДНК и оценка их проводимости : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. консультант Р. З. Бахтизин. - Саратов : [б. и.], 2011. - 22, [1] с. - ISBN [Б. и.]. Шифр 955234
Рубрики: биология--биофизика Кл.слова (ненормированные): ДНК -- ДНК-чипы -- биосенсоры -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- иммобилизация. - Приложение:Исследование методами СЗМ иммобилизации молеку ДНК и оценка их проводимости : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. консультант Р. З. Бахтизин Доп. точки доступа: Бахтизин, Рауф Загидович Экземпляры всего: 1 ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) (1) |
Учебная литература, A987216-ОХФ, A987217-ОХФ, A987218-ОХФ, Усанов, Дмитрий Александрович. Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения [Текст] / Д. А. Усанов. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2010. - 98, [2] с. - [Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области её применения] . - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-292-03937-2 : 98.21 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): СВЧ-микроскопы -- ближнеполевые СВЧ- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотехнологии -- линии передачи -- СВЧ-резонаторы Аннотация: В последние несколько десятилетий в практику вошли средства измерений, работающие в нанометровом масштабе: сканирующие туннельные, атомносиловые и СВЧ-ближнеполевые микроскопы. В настоящем издании рассмотрены принципы действия, основные характеристики, обсуждены достоинства и недостатки, приведены примеры применения различных типов ближнеполевых сканирующих СВЧ-микроскопов. Для ученых, преподавателей и студентов, занимающихся исследованиями в области нано- и биомедицинских технологий. Держатели документа: ЗНБ СГУ Экземпляры всего: 10 ОХФ (3), ОУОЕН (7) |
Учебная литература, A987818-ОХФ, A987819-ОХФ, A988559-ОХФ, Плескова, Светлана Николаевна. Атомно-силовая микроскопия в биологических и медицинских исследованиях [Текст] : учебное пособие / С. Н. Плескова. - Долгопрудный : Издательский дом "Интеллект", 2011. - 183, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 173-183. - ISBN 978-5-91559-108-9 : 512.50 р., 566.50 р.
Рубрики: биология--биология Кл.слова (ненормированные): атомарно-силовые микроскопы -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- биология -- медицина Экземпляры всего: 15 ОХФ (3), ОУОЕН (12) |
A917730-ОХФ-СБО, A918074-ОХФ Справочник Шпрингера по нанотехнологиям [Текст] : в 3 т. / Федер. гос. учреждение Науч.-произв. комплекс "Технологический центр" Моск. гос. ин-та электронной техники ; под ред. Б. Бхушана ; пер. с англ. под общ. ред. А. Н. Саурова. - 2-е изд. - Москва : Техносфера, 2010. - (Мир материалов и технологий ; 6 ; 30). - ISBN 978-5-94836-261-8. Т. 2. - Москва : Техносфера, 2010. - 1040 с. : ил. - ). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-263-2 (т. II) : 1022.00 р., 2080.10 р.
Рубрики: техника--материаловедение радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- материаловедение -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотрибология -- нанореология -- адгезия -- тонкие пленки -- биологическая нанотехнология Доп. точки доступа: Бхушан, Б. \\ред.\\ Сауров, А. Н. \\ред. пер.\\ Экземпляры всего: 2 ОХФ-СБО (1), ОХФ (1) |
11032/Р-ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) Ерохин, Павел Сергеевич. Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы [Рукопись] : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 : защищена 28.04.2015 / П. С. Ерохин ; науч. рук. В. В. Тучин ; Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского". - Саратов : [б. и.], 2015. - 127 л. + 1 автореф. - Библиогр.: л. 104-127 (209 назв.). - ISBN [Б. и.] (в пер.) Приложение: Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин. - Саратов : [б. и.], 2015. - 22, [1] с. - ISBN [Б. и.]. Шифр 579(043.3)/Е 782
Рубрики: биология--микробиология Кл.слова (ненормированные): микроорганизмы -- бактериальные клетки -- микробные сообщества -- биопленки -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- обработка изображений -- сканирующая зондовая микроскопия. - Приложение:Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин Доп. точки доступа: Тучин, Валерий Викторович Экземпляры всего: 1 ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) (1) |
A607872-ОХФ Ерохин, Павел Сергеевич. Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы [Текст] : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин ; науч. рук. В. В. Тучин ; Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского". - Саратов : [б. и.], 2015. - 22, [1] с. - Библиогр.: с. 20-22 (22 назв.). - ISBN [Б. и.] Издание является приложением к документу: Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин. - Саратов : [б. и.], 2015. - 127. - ISBN [Б. и.]. Шифр /Е 782
Рубрики: биология--микробиология Кл.слова (ненормированные): микроорганизмы -- бактериальные клетки -- микробные сообщества -- биопленки -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- обработка изображений -- сканирующая зондовая микроскопия. - Является приложением к Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин\par Доп. точки доступа: Тучин, Валерий Викторович Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Практикум по биофизике [Текст] : в 2 ч. / под ред. А. Б. Рубина. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний. - (Учебник для высшей школы). - ISBN 978-5-9963-1889-6. Ч. 1. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2016. - 191, [1] с. : ил. - ). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-9963-1815-5 (Ч. 1) : 319.00 р. Рекомендовано к опубл. решением Учен. и Учеб.-метод. советов биол. фак. Моск. гос. ун-та им. М. В. Ломоносова
Рубрики: биология--биофизика Кл.слова (ненормированные): биофизика -- биофизические методы -- математическое моделирование -- хемилюминесценция -- флуоресценция -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- электронный парамагнитный резонанс (ЭПР) -- спектрофотометрия -- спектры комбинационного рассеяния -- радиоспектроскопия Доп. точки доступа: Рубин, Андрей Борисович \\ред.\\ Экземпляры всего: 3 ОХФ (2), ОХФ-ЧЗ-4 (1) |
Учебная литература, A996001-ОХФ, A996002-ОХФ, Груздов, Вадим Владимирович. Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике [Текст] / В. В. Груздов, Ю. В. Колковский, Ю. А. Концевой. - Москва : Техносфера, 2016. - 327, [1] с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-426-1 (в пер.) : 1170.40 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): твердотельная электроника -- СВЧ-электроника -- интеллектуальная собственность -- стандарты -- СВЧ-транзисторы -- полупроводниковые приборы -- технологические процессы (ТП) -- широкозонные материалы -- контроль качества -- гетероструктуры -- электронная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- электронная спектроскопия -- рентгеновская дифрактометрия Доп. точки доступа: Колковский, Юрий Владимирович Концевой, Юлий Абрамович Экземпляры всего: 5 ОХФ (2), ОУОЕН (3) |
A930356-ОХФ-СБО Справочник по микроскопии для нанотехнологии [Текст] = Handbook of microscopy for nanotechnology : пер. с англ. / Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям ; под ред.: Н. Яо, Ч. Л. Ван ; науч. ред. рус. изд. И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 712 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники / гл. ред. А.Р. Хохлов). - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.) : 600.00 р.
Рубрики: техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): микроскопия -- оптическая микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая зондовая микроскопия -- масс-спектрометрия -- атомно-зондовая томография -- электронно-лучевая литография -- электронная микроскопия -- электронная нанокристаллография -- электронная голография -- нанотехнологии -- наноразмерные материалы -- наноизмерения Доп. точки доступа: Яо, Нан Ван, Чжун Лин Яминский, И. В. Экземпляры всего: 1 ОХФ-СБО (1) |