| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :1
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>I=537.86(043.3)/Л 278-767689568<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
A608109-ОХФ
    Латышева, Екатерина Викторовна.
    Резонансные СВЧ-методы многопараметровых измерений эпитаксиальных полупроводниковых структур с нанометровыми металлическими слоями [Текст] : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 01.04.03, 05.27.01 / Е. В. Латышева ; науч. рук.: Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль ; Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н. Г. Чернышевского". - Саратов : [б. и.], 2016. - 22, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 21-22 (18 назв.). - ISBN [Б. и.]
Издание является приложением к документу:
Резонансные СВЧ-методы многопараметровых измерений эпитаксиальных полупроводниковых структур с нанометровыми металлическими слоями : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 01.04.03 : защищена 18.11.2016, 05.27.01 / Е. В. Латышева ; науч. рук.: Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль. - Саратов : [б. и.], 2016. - 127. - ISBN [Б. и.]. Шифр 537.86(043.3)/Л 278
УДК

Рубрики: физика--электромагнетизм

Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые структуры -- СВЧ-методы -- волноводно-диэлектрический резонанс -- удельная электропроводность -- многопараметровые измерения -- нанометровые металлические слои -- фотонные кристаллы -- спектры отражения -- эпитаксиальные слои. - Является приложением к Резонансные СВЧ-методы многопараметровых измерений эпитаксиальных полупроводниковых структур с нанометровыми металлическими слоями : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 01.04.03 : защищена 18.11.2016, 05.27.01 / Е. В. Латышева ; науч. рук.: Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль\par


Доп. точки доступа:
Усанов, Дмитрий Александрович
Скрипаль, Александр Владимирович
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)