| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :2
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=in situ<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
Учебные отделы, A992741-ОХФ, A992742-ОХФ, A992743-ОХФ-ЧЗ-4,
    Методы и средства контроля процессов и структур in situ [Текст] : учебное пособие для студентов, магистрантов и аспирантов направлений "Электроника и наноэлектроника", "Материаловедение и технологии материалов", "Биотехнические системы и технологии" : в 2 ч. / Сарат. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2014 - 2016. - (Материаловедение и технология новых материалов).
   Ч. 1 / Д. И. Биленко [и др.] ; под общ. ред. Д. И. Биленко и С. Б. Венига. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2014. - 199, [1] с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 187 (5 назв.). - ISBN 978-5-292-04289-1 (ч. 1) : 404.03 р., 404.02 р., 403.02 р.
УДК

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
технологические процессы (ТП) -- сканирующая туннельная технология -- in situ -- методология технологии -- температура объектов -- газовые потоки -- наноструктуры -- пленки -- сверхрешетки -- прогнозирование -- микротехнология -- нанотехнологии -- материаловедение


Доп. точки доступа:
Биленко, Давид Исаакович
Белобровая, Ольга Яковлевна
Вениг, Сергей Борисович
Галушка, В. В.
Биленко, Давид Исаакович
Вениг, Сергей Борисович
Экземпляры всего: 38
ОХФ (2), ОХФ-ЧЗ-4 (1), ОУОЕН (35)
Найти похожие

2.
Учебные отделы, A996967-ОХФ, A996968-ОХФ, A996969-ОХФ,
    Методы и средства контроля процессов и структур in situ [Текст] : учебное пособие для бакалавров, магистрантов и аспирантов, обучающихся по направлениям "Физика и астрономия", "Информатика и вычислительная техника", "Электроника, радиотехника и системы связи", "Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии", "Технологии материалов", "Управление в технических системах" : в 2 ч. / Сарат. нац. исслед. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2014 - 2016. - ISBN 978-5-292-04282-2.
   Ч. 2 / Д. И. Биленко [и др.] ; под общ. ред. Д. И. Биленко и С. Б. Венига. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2016. - 114, [2] с. : рис. - (Материаловедение и технология новых материалов / гл. ред. С. Б. Вениг). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-292-04393-5 (ч. 2) : 324.31 р., 324.32 р.
УДК

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
наноструктуры -- in situ -- многопараметровые измерения -- спектральная эллипсометрия -- спектрофотометрия -- массоперенос -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- материаловедение -- нанотехнологии -- обработка данных -- контроль


Доп. точки доступа:
Биленко, Давид Исаакович
Вениг, Сергей Борисович
Терин, Денис Владимирович
Белобровая, Ольга Яковлевна
Биленко, Давид Исаакович
Вениг, Сергей Борисович
Экземпляры всего: 38
ОХФ (3), ОУОЕН (35)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)