| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :1
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>KL=электронно-зондовый микроанализ<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
A914179-ОХФ
    Рид, Стефан Дж. Б..
    Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии [Текст] / С. Дж. Б. Рид ; пер. с англ. Д. Б. Петрова, И. М. Романенко, В. А. Ревенко. - Москва : Техносфера, 2008. - 229, [3] с. : ил. - (Мир наук о Земле). - Библиогр.: с. 205-215. - Предм. указ.: с. 216-219. - ISBN 978-5-94836-177-2 (в пер.). - ISBN 0-521-84875-X (англ.) : 450.00 р.
УДК

Рубрики: геология--геология

Кл.слова (ненормированные):
геология -- электронно-зондовый микроанализ -- растровая электронная микроскопия


Доп. точки доступа:
Петров, Д. Б.
Романенко, И. М.
Ревенко, В. А.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)