| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :1
 В других БД по вашему запросу найдено:ЭБС "РУКОНТ" (1)ЭБС "IPRBOOKS" (3)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: <.>A=Яо, $<.>
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : [681.723:620.3](0/С 74-313032189
Заглавие : Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ.
Параллельн. заглавия :Handbook of microscopy for nanotechnology
Выходные данные : Москва: Научный мир, 2011
Колич.характеристики :712 с.: ил.
Коллективы : Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники/ гл. ред. А.Р. Хохлов
Примечания : Библиогр. в конце ст.
ISBN (в пер.), Цена 978-5-91522-232-7: 600.00 р.
УДК : [681.723:620.3](035)
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопия--оптическая микроскопия--сканирующая туннельная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--сканирующая зондовая микроскопия--масс-спектрометрия--атомно-зондовая томография--электронно-лучевая литография--электронная микроскопия--электронная нанокристаллография--электронная голография--нанотехнологии--наноразмерные материалы--наноизмерения
Экземпляры :ОХФ-СБО(1)
Свободны : ОХФ-СБО(1)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)