| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :2
 В других БД по вашему запросу найдено:ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М") (2)ЭБС "РУКОНТ" (10)ЭБС "IPRBOOKS" (5)Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (12)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>A=Мышкин, $<.>
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 682496
621.372.82:621.383.8/К35
Автор(ы) : Кемельбеков, Бекен Жасымбаевич, Мышкин В. Ф., Хан, Валерий Алексеевич
Заглавие : Волоконно-оптические кабели
Выходные данные : Москва: Изд-во НТЛ, 1999
Колич.характеристики :391, [1] с
Серия: Современные проблемы волоконно-оптических линий связи; Т. 1
ISBN (в пер.), Цена 5-283-02440-8: 40.00 р.
УДК : 681.7.068.4:621.396
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- квантовая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): волоконно-оптические линии связи--световоды--оптические кабели--волоконная оптика
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 820019
Автор(ы) : Уайтхауз, Дэвид
Заглавие : Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы
Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2009
Колич.характеристики :471, [1] с.: рис.
Примечания : Библиогр.: с. 469-471 (55 назв.)
ISBN, Цена 978-5-91559-023-5 (в пер.): 891.00 р.
ISBN, Цена 1 9039 9660 0: Б.ц.
УДК : 006(075.8+038)
Предметные рубрики: метрология.стандартизация-- метрология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): метрология--метрология поверхностей--метрологическое обеспечение--средства измерений--измерения--надежность измерений
Экземпляры : всего : ОУОЕН(10), ОХФ(3)
Свободны : ОУОЕН(10), ОХФ(3)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)