| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :4
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (3)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=681.723.2<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 535965
681.4/Д95
Автор(ы) : Дюков, Валентин Георгиевич, Кудеяров, Юрий Алексеевич
Заглавие : Растровая оптическая микроскопия
Выходные данные : Москва: Наука, 1992
Колич.характеристики :208 с.: ил.
Серия: Современные физико-технические проблемы
Примечания : Библиогр.
ISBN, Цена 5-02-014374-X: 42.00 р.
УДК : 681.723.2
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы--оптическая микроскопия--растровые оптические микроскопы
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 900524
Автор(ы) : Егорова, Ольга Владимировна
Заглавие : Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей . -2-е изд., перераб.
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2007
Колич.характеристики :357, [3] с.: рис., табл.
Серия: Мир материалов и технологий
Примечания : Библиогр.: с. 355-357 (60 назв.)
ISBN (в пер.), Цена 978-5-94836-129-1: 325.00 р.
УДК : 681.723.2
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы--микроскопия--методы исследования--стандартизация--контроль качества
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 665467
Автор(ы) : Синдо, Дайзуке, Оикава, Тецуо
Заглавие : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2006
Колич.характеристики :249, [7] с.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 5-94836-064-4 (в пер.): 110.00 р.
ISBN, Цена 4-431-70336-5 (англ.): Б.ц.
УДК : 681.723.2 + 621.385.833.2
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы
радиотехника.электроника-- электронные приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронные микроскопы--микроскопы--электронная микроскопия--рентгеновская спектроскопия--трехмерная томография--материаловедение--alchemi метод
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 009163
Автор(ы) : Усанов, Дмитрий Александрович
Заглавие : Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения
Выходные данные : Саратов: Издательство Саратовского университета, 2010
Колич.характеристики :98, [2] с
Разночтения заглавия :Загл., сост. каталогизатором: Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области её применения
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 978-5-292-03937-2: 98.21 р.
УДК : 621.385.833 + 681.723.2
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): свч-микроскопы--ближнеполевые свч- микроскопы--сканирующая туннельная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--нанотехнологии--линии передачи--свч-резонаторы
Аннотация: В последние несколько десятилетий в практику вошли средства измерений, работающие в нанометровом масштабе: сканирующие туннельные, атомносиловые и СВЧ-ближнеполевые микроскопы. В настоящем издании рассмотрены принципы действия, основные характеристики, обсуждены достоинства и недостатки, приведены примеры применения различных типов ближнеполевых сканирующих СВЧ-микроскопов. Для ученых, преподавателей и студентов, занимающихся исследованиями в области нано- и биомедицинских технологий.
Экземпляры : всего : ОХФ(3), ОУОЕН(7)
Свободны : ОХФ(3), ОУОЕН(7)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)