| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :2
 В других БД по вашему запросу найдено:ЭБС "BOOK.ru" (1)Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (35)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=621.382.3<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 522954
621.382.3/P89
Заглавие : Power Transistors: Device Design and Applications : научное издание
Выходные данные : New York: IEEE Press, 1984
Колич.характеристики :393 p.: fig.
Серия: IEEE Press Selected Reprint Ser.
Примечания : Bibliogr.
ISBN, Цена 0-87942-181-9: Б.ц.
УДК : 621.382.3
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): транзисторы--тиристоры
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382.3/Г 901
Автор(ы) : Груздов, Вадим Владимирович, Колковский, Юрий Владимирович, Концевой, Юлий Абрамович
Заглавие : Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2016
Колич.характеристики :327, [1] с.: ил.
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN (в пер.), Цена 978-5-94836-426-1: 1170.40 р.
УДК : 621.382.3
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): твердотельная электроника--свч-электроника--интеллектуальная собственность--стандарты--свч-транзисторы--полупроводниковые приборы--технологические процессы (тп)--широкозонные материалы--контроль качества--гетероструктуры--электронная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--электронная спектроскопия--рентгеновская дифрактометрия
Экземпляры : всего : ОХФ(2), ОУОЕН(3)
Свободны : ОХФ(2), ОУОЕН(3)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)