| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :5
 В других БД по вашему запросу найдено:ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М") (11)ЭБС "РУКОНТ" (6)ЭБС "IPRBOOKS" (28)ЭБС "BOOK.ru" (2)Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (4)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=006<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 509952
389.6/В19
Автор(ы) : Васильев, Алексей Леонидович
Заглавие : Стандартизация для всех
Выходные данные : Москва: Изд-во стандартов, 1992
Колич.характеристики :112 с.: Табл. 2. Рис. 13.
Примечания : Библиогр.
ISBN, Цена 5-7050-0296-3: 30.00 р.
УДК : 006
Предметные рубрики: метрология.стандартизация-- метрология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): стандарты
Экземпляры : всего : ОХФ(2)
Свободны : ОХФ(2)
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 458009
389/Г77
Автор(ы) : Гранатуров, Владимир Михайлович, Маркович Ю. А., Попович А. Г.
Заглавие : Автоматизация решения организационно-экономических задач в метрологических службах
Выходные данные : Москва: Изд-во стандартов, 1992
Колич.характеристики :56 с.: ил.
Примечания : Библиогр.
ISBN, Цена 5-7050-0275-0: 10.00 р.
УДК : 006
Предметные рубрики: метрология.стандартизация-- метрология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): метрологическая служба--метрология--метрологическое обеспечение
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие

3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 246680
Автор(ы) : Окрепилов, Владимир Валентинович
Заглавие : Стандартизация и метрология в нанотехнологиях
Выходные данные : Санкт-Петербург: Наука, 2008
Колич.характеристики :263, [1] с.: рис.
Примечания : Библиогр.: с. 198-207
ISBN (в пер.), Цена 978-5-02-025339-1: 160.00 р.
УДК : 620.3 + 006
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
метрология.стандартизация-- метрология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии--государственное регулирование--метрология--стандартизация--наноиндустрия
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие

4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 006/Р 93
Автор(ы) : Рыжаков, Виктор Васильевич, Рыжаков, Михаил Викторович
Заглавие : Стохастические методы идентификации и оценивания характеристик средств измерения
Выходные данные : Москва: ФИЗМАТЛИТ, 2015
Колич.характеристики :144 с
Примечания : Библиогр.: с. 139-141 (42 назв.)
ISBN (в пер.), Цена 978-5-9221-1658-9: 330.00 р.
УДК : 006
Предметные рубрики: метрология.стандартизация-- метрология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): средства измерений--измерительные приборы--метрология--стохастические методы--погрешности измерений--математические модели
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие

5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 795240
389.1/Ц27
Автор(ы) : Цветков, Эрик Иванович
Заглавие : Алгоритмические основы измерений
Выходные данные : Санкт-Петербург: Энергоатомиздат, 1992
Колич.характеристики :256 с.: ил.
Примечания : Библиогр.
ISBN (в пер.), Цена 5-283-04606-0: 125.00 р.
УДК : 006
Предметные рубрики: метрология.стандартизация-- метрология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): измерения--алгоритмизация
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)