| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>U=[620.22:539.2](075.8)<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 112921
620.22/Б 874
Автор(ы) : Брандон Д., Каплан У.
Заглавие : Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2004
Колич.характеристики :377, [7] с.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377
ISBN, Цена 5-94836-018-0 (в пер.): 191.88 р.
ISBN, Цена 0 471 98501 5 (англ.): Б.ц.
УДК : [620.22:539.2](075.8)
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--микроструктуры--оптическая микроскопия--электронная микроскопия--микроанализ--химический анализ
Экземпляры : всего : ОУОЕН(22), ОХФ(1), ОХФ-ЧЗ-4(2)
Свободны : ОУОЕН(22), ОХФ(1), ОХФ-ЧЗ-4(2)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)