| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :2
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (2)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=in situ<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 620.3(075.8)/М 545
Автор(ы) : Биленко, Давид Исаакович, Вениг, Сергей Борисович, Терин, Денис Владимирович, Белобровая, Ольга Яковлевна
Заглавие : Методы и средства контроля процессов и структур in situ: учебное пособие для бакалавров, магистрантов и аспирантов, обучающихся по направлениям "Физика и астрономия", "Информатика и вычислительная техника", "Электроника, радиотехника и системы связи", "Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии", "Технологии материалов", "Управление в технических системах" : в 2 ч./ Сарат. нац. исслед. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. Ч. 2
Выходные данные : Саратов: Издательство Саратовского университета, 2016
Колич.характеристики :114, [2] с.: рис.
Коллективы : Сарат. нац. исслед. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского
Серия: Материаловедение и технология новых материалов/ гл. ред. С. Б. Вениг
Примечания : Библиогр. в конце разд.
ISBN, Цена 978-5-292-04393-5: 324.31, 324.32, р.
УДК : 620.3(075.8)
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктуры--in situ--многопараметровые измерения--спектральная эллипсометрия--спектрофотометрия--массоперенос--рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия--материаловедение--нанотехнологии--обработка данных--контроль
Экземпляры : всего : ОХФ(3), ОУОЕН(35)
Свободны : ОХФ(3), ОУОЕН(35)
Найти похожие

2.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 620.3(075.8)/М 545
Автор(ы) : Биленко, Давид Исаакович, Белобровая, Ольга Яковлевна, Вениг, Сергей Борисович, Галушка В. В.
Заглавие : Методы и средства контроля процессов и структур in situ: учебное пособие для студентов, магистрантов и аспирантов направлений "Электроника и наноэлектроника", "Материаловедение и технологии материалов", "Биотехнические системы и технологии" : в 2 ч./ Сарат. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. - (Материаловедение и технология новых материалов). Ч. 1
Выходные данные : Саратов: Издательство Саратовского университета, 2014
Колич.характеристики :199, [1] с.: ил., табл.
Коллективы : Сарат. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского
Примечания : Библиогр.: с. 187 (5 назв.)
ISBN, Цена 978-5-292-04289-1: 404.03, 404.02, 403.02, р.
УДК : 620.3(075.8)
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): технологические процессы (тп)--сканирующая туннельная технология--in situ--методология технологии--температура объектов--газовые потоки--наноструктуры--пленки--сверхрешетки--прогнозирование--микротехнология--нанотехнологии--материаловедение
Экземпляры : всего : ОХФ(2), ОХФ-ЧЗ-4(1), ОУОЕН(35)
Свободны : ОХФ(2), ОХФ-ЧЗ-4(1), ОУОЕН(35)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)