| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :3
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (15)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=эпитаксиальные слои<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 242071
539.26+548.73/Б86
Автор(ы) : Боуэн Д. К., Таннер Б. К.
Заглавие : Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : монография
Параллельн. заглавия :High resolution X-RAY diffractometry and topography
Выходные данные : Санкт-Петербург: Наука, 2002
Колич.характеристики :273, [7] с.: ил.
Примечания : Библиогр.
ISBN (в пер.), Цена 5-02-024963-7: 105.00 р.
УДК : 539.26:621.315.592 + 548.73
Предметные рубрики: физика-- физика твердого тела
химия-- кристаллография
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеновская дифрактометрия--дифрактометрия--рентгеновская топография--топография--дифракция рентгеновских лучей--высокоразрешающая дифрактометрия--дефекты в кристаллах--синхротронное излучение--эпитаксиальные слои--материаловедение--тонкие пленки--рассеяния теория
Экземпляры : всего : ОХФ(2)
Свободны : ОХФ(2)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.86(043.3)/Л 278 рукописный текст
Автор(ы) : Латышева, Екатерина Викторовна
Заглавие : Резонансные СВЧ-методы многопараметровых измерений эпитаксиальных полупроводниковых структур с нанометровыми металлическими слоями : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 01.04.03, 05.27.01 : защищена 18.11.2016
Выходные данные : Саратов: [б. и.], 2016
Колич.характеристики :127 л.: ил., табл. + 1 автореф.
Коллективы : Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского"
Примечания : Библиогр.: л. 104-127 (184 назв.)
ISBN (в пер.), Цена [Б. и.]
УДК : 537.86(043.3) + 621.382(043.3)
Предметные рубрики: физика-- электромагнетизм
радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые структуры--свч-методы--волноводно-диэлектрический резонанс--удельная электропроводность--многопараметровые измерения--нанометровые металлические слои--фотонные кристаллы--спектры отражения--эпитаксиальные слои
Экземпляры :ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд)(1)
Свободны : ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд)(1)
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.86(043.3)/Л 278 рукописный текст
Автор(ы) : Латышева, Екатерина Викторовна
Заглавие : Резонансные СВЧ-методы многопараметровых измерений эпитаксиальных полупроводниковых структур с нанометровыми металлическими слоями : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 01.04.03, 05.27.01
Выходные данные : Саратов: [б. и.], 2016
Колич.характеристики :22, [1] с.: ил.
Коллективы : Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. образования "Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н. Г. Чернышевского"
Примечания : Библиогр.: с. 21-22 (18 назв.)
ISBN, Цена [Б. и.]
УДК : 537.86(043.3) + 621.382(043.3)
Предметные рубрики: физика-- электромагнетизм
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводниковые структуры--свч-методы--волноводно-диэлектрический резонанс--удельная электропроводность--многопараметровые измерения--нанометровые металлические слои--фотонные кристаллы--спектры отражения--эпитаксиальные слои
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)