| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :2
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (8)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=электронные микроскопы<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 420409
621.385.833+681.4/H22
Заглавие : Handbuch der Mikroskopie : справочное издание . -3., stark bearb. Aufl.
Выходные данные : Berlin: Technik, 1988
Колич.характеристики :488 S.: Abb.
Примечания : Bibliogr.
ISBN, Цена 3-341-00283-9: 203000.00 р.
УДК : 621.385.833.2(035) + 681.723.2(035)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): оптическая система микроскопа--стереомикроскопия--источники света--светофильтры--электронные микроскопы--микроскопы--оптические микроскопы
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 665467
Автор(ы) : Синдо, Дайзуке, Оикава, Тецуо
Заглавие : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2006
Колич.характеристики :249, [7] с.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 5-94836-064-4 (в пер.): 110.00 р.
ISBN, Цена 4-431-70336-5 (англ.): Б.ц.
УДК : 681.723.2 + 621.385.833.2
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы
радиотехника.электроника-- электронные приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронные микроскопы--микроскопы--электронная микроскопия--рентгеновская спектроскопия--трехмерная томография--материаловедение--alchemi метод
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)