| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :14
 В других БД по вашему запросу найдено:ЭБС "ЛАНЬ" (1)Публикации учёных СГУ (5)Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (48)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=электронная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 14
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 001579
611.018(076.5)/Ш49
Автор(ы) : Шереметьева, Галина Фёдоровна, Кочарян, Евгения Захарьевна
Заглавие : Методы гистологических исследований
Выходные данные : Москва: НЦХ РАМН, 1995
Колич.характеристики :37 с
Примечания : Библиогр. - Авт. указаны на обороте тит. л.
ISBN, Цена 5-900895-01-7: 4000.00 р.
УДК : 611.018(076.5)
Предметные рубрики: медицина-- анатомия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): гистология--артефакты--гистохимия--микроскопия--электронная микроскопия--радиоавтография--ткани биологические
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 130003
57:621.37/39/F85
Автор(ы) : Frank, Joachim
Заглавие : Three-Dimensional Electron Microscopy of Macromolecular Assemblies : научное издание
Выходные данные : San Diego a. o.: Acad. Press, 1996
Колич.характеристики :342 p.: fig.
Примечания : Bibliogr.
ISBN, Цена 0-12-265040-9: 17.00 р.
УДК : 578.6
Предметные рубрики: биология-- биология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): биология--электронная микроскопия--макромолекулярные схемы
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 097026
017.7:34+343.977/Е74
Автор(ы) : Ермолаев, Сергей Анатольевич, Мельников И. Н., Орлов, Федор Павлович
Заглавие : Естественно-научные методы и технические средства экспертного исследования : учеб. пособие
Выходные данные : Саратов: Изд-во СЮИ МВД РФ, 2000
Колич.характеристики :151 с.: ил.
Примечания : Библиогр.
ISBN, Цена 5-7485-0140-6: 25.00 р.
УДК : 343.983
Предметные рубрики: государство и право-- уголовное право
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): цифровые изображения--химический анализ--масс-спектрометрия--технические средства--хроматография--криминалистическая экспертиза--спектроскопия--электронная микроскопия--микроскопы--рентгеновские лучи
Экземпляры : всего : ОХФ(2)
Свободны : ОХФ(2)
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 519091
561.07/Т51
Автор(ы) : Токарев П. И.
Заглавие : Морфология и ультраструктура пыльцевых зерен : научное издание
Выходные данные : Москва: КМК, 2002
Колич.характеристики :51, [1] с
ISBN, Цена 5-87317-102-5: 35.00 р.
УДК : 561:581.3:537.533.35
Предметные рубрики: палеонтология-- палеоботаника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): палинология--пыльца--споры--пыльцевые зерна--спородермы--электронная микроскопия--электронная микроскопия--спородермы--палинологические исследования
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 112921
620.22/Б 874
Автор(ы) : Брандон Д., Каплан У.
Заглавие : Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2004
Колич.характеристики :377, [7] с.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377
ISBN, Цена 5-94836-018-0 (в пер.): 191.88 р.
ISBN, Цена 0 471 98501 5 (англ.): Б.ц.
УДК : [620.22:539.2](075.8)
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--микроструктуры--оптическая микроскопия--электронная микроскопия--микроанализ--химический анализ
Экземпляры : всего : ОУОЕН(22), ОХФ(1), ОХФ-ЧЗ-4(2)
Свободны : ОУОЕН(22), ОХФ(1), ОХФ-ЧЗ-4(2)
Найти похожие
6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 665467
Автор(ы) : Синдо, Дайзуке, Оикава, Тецуо
Заглавие : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2006
Колич.характеристики :249, [7] с.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 5-94836-064-4 (в пер.): 110.00 р.
ISBN, Цена 4-431-70336-5 (англ.): Б.ц.
УДК : 681.723.2 + 621.385.833.2
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы
радиотехника.электроника-- электронные приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронные микроскопы--микроскопы--электронная микроскопия--рентгеновская спектроскопия--трехмерная томография--материаловедение--alchemi метод
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 296450
Заглавие : Методы и средства микроскопии : метод. указания
Выходные данные : Екатеринбург: Изд-во УМЦ УПИ, 2005
Колич.характеристики :187, [1] с.: ил.
Коллективы : ГОУ ВПО "Уральский государственный технический университет - УПИ"
Примечания : Библиогр.: с. 186-187 (25 назв.)
ISBN, Цена [Б. и.]: 65.00 р.
УДК : 681.723.2(072.8) + 620.22(072.8)
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопия--микроскопы--оптическая микроскопия--электронная микроскопия--зондовая микроскопия --обработка изображений--наночастицы--биологические объекты
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 537.533.2/Ф 954
Автор(ы) : Фурсей, Георгий Николаевич
Заглавие : Автоэлектронная эмиссия
Выходные данные : Санкт-Петербург; Москва; Краснодар: Лань, 2012
Колич.характеристики :319, [5] с.: ил., фото. цв.
Серия: Учебники для вузов. Специальная литература
Примечания : Библиогр.: с. 274-311 (517 назв.)
ISBN (в пер.), Цена 978-5-8114-1232-7: 455.00 р.
УДК : 537.533.2 + 621.385
Предметные рубрики: физика-- электромагнетизм
радиотехника.электроника-- электронные приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): автоэлектронная эмиссия--металлы--полупроводники--точечные автоэлектронные катоды--электронная микроскопия--электронно-оптические устройства--вакуумная наноэлектроника
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
9.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 539.21/Н 254
Заглавие : Наноструктурные покрытия
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2011
Колич.характеристики :750, [2] с.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий; 28
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN, Цена 978-5-94836-182-6 (в пер.): 1247.00 р.
ISBN, Цена 978-0-38-725642-9: Б.ц.
УДК : 539.21 + 620.3-408
Предметные рубрики: физика-- физика твердого тела
техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): твердые тела--наноструктурные покрытия--покрытия--наноструктурные металлы--деформации--дефекты--наноиндентирование--электронная микроскопия--наноструктурные твердые пленки--нанокомпозиты--магнетронное напыление--синтез--разрушение покрытий--трибология
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382.3/Г 901
Автор(ы) : Груздов, Вадим Владимирович, Колковский, Юрий Владимирович, Концевой, Юлий Абрамович
Заглавие : Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2016
Колич.характеристики :327, [1] с.: ил.
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN (в пер.), Цена 978-5-94836-426-1: 1170.40 р.
УДК : 621.382.3
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): твердотельная электроника--свч-электроника--интеллектуальная собственность--стандарты--свч-транзисторы--полупроводниковые приборы--технологические процессы (тп)--широкозонные материалы--контроль качества--гетероструктуры--электронная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--электронная спектроскопия--рентгеновская дифрактометрия
Экземпляры : всего : ОХФ(2), ОУОЕН(3)
Свободны : ОХФ(2), ОУОЕН(3)
Найти похожие
11.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.18/З-840
Автор(ы) : Карпасюк, Владимир Корнильевич, Смирнов, Андрей Михайлович
Заглавие : Зондирующие методы исследований в материаловедении : учебное пособие
Выходные данные : Астрахань: Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014
Колич.характеристики :214, [2] с.: ил.
Коллективы : ФГБОУ ВПО "Астраханский государственный университет", Центр Функцион. Магнит. Материалов
Примечания : Библиогр.: с. 209-214 (91 назв.)
ISBN, Цена 978-5-91910-342-4: 293.00 р.
УДК : 620.18
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--зондирование --структурный анализ--ферромагнитный резонанс--ядерный магнитный резонанс (ямр)--рентгеноструктурный анализ--нейтронография--электронография--электронная микроскопия--оже-электронная спектроскопия--рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия--масс-спектрометрия--сканирующая зондовая микроскопия
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
12.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 544/И 98
Автор(ы) : Ищенко, Анатолий Александрович
Заглавие : Структура и динамика свободных молекул и конденсированного вещества
Выходные данные : Москва: ФИЗМАТЛИТ, 2018
Колич.характеристики :655, [1] с.: ил., табл.
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 646-655
ISBN (в пер.), Цена 978-5-9221-1799-9: 841.00 р.
УДК : 544
Предметные рубрики: химия-- физическая химия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): химические реакции--динамика химических реакций--электронная дифракция--молекулярные структуры--электронно-колебательные взаимодействия--внутримолекулярная динамика--пентагалогениды--переходные структуры--электронная кристаллография--нанокристаллография--электронная микроскопия--структурная динамика--спектральные методы--дифракционные методы
Экземпляры : всего : ОХФ(2)
Свободны : ОХФ(2)
Найти похожие
13.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 539.19/И 98
Автор(ы) : Ищенко, Анатолий Александрович, Гиричев, Георгий Васильевич, Тарасов, Юрий Игоревич
Заглавие : Дифракция электронов: структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества
Выходные данные : Москва: ФИЗМАТЛИТ, 2012
Колич.характеристики :616 с.: ил.
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 611-614
ISBN (в пер.), Цена 978-5-9221-1447-9: 639.00 р.
УДК : 539.19 + 544
Предметные рубрики: физика-- молекулярная физика
химия-- физическая химия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): молекулярная физика--строение вещества--электронная дифракция--молекулярные структуры--внутримолекулярная динамика--теория рассеяния электронов--электронография--масс-спектрометрия--структурная динамика--свободные молекулы--электроны--фотоэлектроника--электронная микроскопия--электронно-колебательные взаимодействия--нанокристаллография
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
14.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : [681.723:620.3](0/С 74-313032189
Заглавие : Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ.
Параллельн. заглавия :Handbook of microscopy for nanotechnology
Выходные данные : Москва: Научный мир, 2011
Колич.характеристики :712 с.: ил.
Коллективы : Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники/ гл. ред. А.Р. Хохлов
Примечания : Библиогр. в конце ст.
ISBN (в пер.), Цена 978-5-91522-232-7: 600.00 р.
УДК : [681.723:620.3](035)
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопия--оптическая микроскопия--сканирующая туннельная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--сканирующая зондовая микроскопия--масс-спектрометрия--атомно-зондовая томография--электронно-лучевая литография--электронная микроскопия--электронная нанокристаллография--электронная голография--нанотехнологии--наноразмерные материалы--наноизмерения
Экземпляры :ОХФ-СБО(1)
Свободны : ОХФ-СБО(1)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)