| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :4
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (68)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=рентгеновские лучи<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 884672
548.73/К61
Автор(ы) : Колпаков, Андрей Васильевич, Прудников, Илья Рудольфович
Заглавие : Дифракция рентгеновских лучей в сверхрешетках : учеб. пособие
Выходные данные : Москва: Изд-во Моск. ун-та, 1992
Колич.характеристики :128 с.: ил.
Серия: Физика
Примечания : Библиогр.
ISBN, Цена 5-211-02871-6: 7.15 р.
УДК : 548.73
Предметные рубрики: химия-- кристаллография
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеновские лучи--дифракция рентгеновских лучей--сверхрешетки--дифракция по брэггу--дифракция по лауэ--дифрактометрия--рентгеновская двукристальная дифрактометрия--кристаллы
Экземпляры : всего : ОХФ(2)
Свободны : ОХФ(2)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 097026
017.7:34+343.977/Е74
Автор(ы) : Ермолаев, Сергей Анатольевич, Мельников И. Н., Орлов, Федор Павлович
Заглавие : Естественно-научные методы и технические средства экспертного исследования : учеб. пособие
Выходные данные : Саратов: Изд-во СЮИ МВД РФ, 2000
Колич.характеристики :151 с.: ил.
Примечания : Библиогр.
ISBN, Цена 5-7485-0140-6: 25.00 р.
УДК : 343.983
Предметные рубрики: государство и право-- уголовное право
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): цифровые изображения--химический анализ--масс-спектрометрия--технические средства--хроматография--криминалистическая экспертиза--спектроскопия--электронная микроскопия--микроскопы--рентгеновские лучи
Экземпляры : всего : ОХФ(2)
Свободны : ОХФ(2)
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 185028
Автор(ы) : Фетисов, Геннадий Владимирович
Заглавие : Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ : учеб. пособие
Выходные данные : Москва: ФИЗМАТЛИТ, 2007
Колич.характеристики :671, [1] с.: рис.
Серия: Фундаментальная и прикладная физика
Примечания : Библиогр.: с. 636-663. - Предм. указ.: с. 664-671. - Допущено УМО по клас. унив. образованию, в качестве учеб. пособия для студентов ст. курсов, обучающихся по специальности 020101 (011000) - Химия
ISBN (в пер.), Цена 978-5-9221-0805-8: 495.00 р.
УДК : 539.26 + 548.73
Предметные рубрики: физика-- физика твердого тела
химия-- кристаллография
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеноструктурный анализ--синхротронное излучение--электромагнитное излучение--рентгеновские лучи--дифракция--xafs спектроскопия--структурная химия
Экземпляры : всего : ОУОЕН(2), ОХФ(1), ОХФ-ЧЗ-4(2)
Свободны : ОУОЕН(2), ОХФ(1), ОХФ-ЧЗ-4(2)
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 548.73(075.8)/П 917
Автор(ы) : Пущаровский, Дмитрий Юрьевич
Заглавие : Рентгенография минералов : учебник
Выходные данные : Москва: Геоинформмарк, 2000
Колич.характеристики :295, [1] с.: ил., табл.
Коллективы : Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова
Примечания : Библиогр.: с. 288 (17 назв.). - Допущено М-вом образования РФ в качестве учеб. для геол. специальностей вузов
ISBN (в пер.), Цена 5-900357-50-3: 270.00 р.
УДК : 548.73(075.8)
Предметные рубрики: химия-- кристаллография
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): минералы--кристаллы--рентгенография--рентгеновские лучи--рассеяние рентгеновских лучей--рентгеноструктурный анализ
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)