| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :3
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (3)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 582649
539.27/Е53
Автор(ы) : Еловиков, Сергей Сергеевич
Заглавие : Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок : [учеб. пособие]
Выходные данные : Москва: Изд-во Моск. ун-та, 1992
Колич.характеристики :94 с.: ил.
Серия: Физика
Примечания : Библиогр.
ISBN, Цена 5-211-02904-6: 5.50 р.
УДК : 539.27(075.8)
Предметные рубрики: физика-- физика твердого тела
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): твердые тела--тонкие пленки--электронная спектроскопия--энергоанализ заряженных частиц--оже-электронная спектроскопия--рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия--сканирующая туннельная микроскопия
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 620.18/З-840
Автор(ы) : Карпасюк, Владимир Корнильевич, Смирнов, Андрей Михайлович
Заглавие : Зондирующие методы исследований в материаловедении : учебное пособие
Выходные данные : Астрахань: Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014
Колич.характеристики :214, [2] с.: ил.
Коллективы : ФГБОУ ВПО "Астраханский государственный университет", Центр Функцион. Магнит. Материалов
Примечания : Библиогр.: с. 209-214 (91 назв.)
ISBN, Цена 978-5-91910-342-4: 293.00 р.
УДК : 620.18
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--зондирование --структурный анализ--ферромагнитный резонанс--ядерный магнитный резонанс (ямр)--рентгеноструктурный анализ--нейтронография--электронография--электронная микроскопия--оже-электронная спектроскопия--рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия--масс-спектрометрия--сканирующая зондовая микроскопия
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
3.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 620.3(075.8)/М 545
Автор(ы) : Биленко, Давид Исаакович, Вениг, Сергей Борисович, Терин, Денис Владимирович, Белобровая, Ольга Яковлевна
Заглавие : Методы и средства контроля процессов и структур in situ: учебное пособие для бакалавров, магистрантов и аспирантов, обучающихся по направлениям "Физика и астрономия", "Информатика и вычислительная техника", "Электроника, радиотехника и системы связи", "Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии", "Технологии материалов", "Управление в технических системах" : в 2 ч./ Сарат. нац. исслед. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. Ч. 2
Выходные данные : Саратов: Издательство Саратовского университета, 2016
Колич.характеристики :114, [2] с.: рис.
Коллективы : Сарат. нац. исслед. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского
Серия: Материаловедение и технология новых материалов/ гл. ред. С. Б. Вениг
Примечания : Библиогр. в конце разд.
ISBN, Цена 978-5-292-04393-5: 324.31, 324.32, р.
УДК : 620.3(075.8)
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноструктуры--in situ--многопараметровые измерения--спектральная эллипсометрия--спектрофотометрия--массоперенос--рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия--материаловедение--нанотехнологии--обработка данных--контроль
Экземпляры : всего : ОХФ(3), ОУОЕН(35)
Свободны : ОХФ(3), ОУОЕН(35)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)