| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :5
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (3)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=рентгеновская дифрактометрия<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 553803
621.391.08017.7:621.3/А22
Автор(ы) : Скрипаль, Александр Владимирович, Абрамов, Антон Валерьевич, Усанов, Дмитрий Александрович, Скрипаль, Александр Владимирович
Заглавие : Автоматизированные системы научных исследований : учеб. пособие для студентов физ. фак.
Выходные данные : Саратов: Издательство Саратовского университета, 2004
Колич.характеристики :143, [1] с
Коллективы : Сарат. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского
Примечания : Библиогр.: с. 124-126 (75 назв.)
ISBN, Цена 5-292-03266-2: 40.00, 60.00, р.
УДК : 681.518.3(075.8)
Предметные рубрики: автоматика.кибернетика-- системы автоматического управления
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): автоматизированные системы--научные исследования--гранулометрия--измерительные системы--обработка сигналов--дифрактометрия--рентгеновская дифрактометрия--фотометрия--видеотехнологии
Аннотация: В пособии приводятся основные сведения о возможностях построения систем автоматизированного сбора и анализа данных. Рассматриваются аппаратные средства для автоматизированных систем. Излагаются основы реализации автоматизированных систем для различных научных задач, сформулированы задания к семинарским и практическим занятиям.
Экземпляры : всего : ОХФ(2)
Свободны : ОХФ(2)
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 242071
539.26+548.73/Б86
Автор(ы) : Боуэн Д. К., Таннер Б. К.
Заглавие : Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография : монография
Параллельн. заглавия :High resolution X-RAY diffractometry and topography
Выходные данные : Санкт-Петербург: Наука, 2002
Колич.характеристики :273, [7] с.: ил.
Примечания : Библиогр.
ISBN (в пер.), Цена 5-02-024963-7: 105.00 р.
УДК : 539.26:621.315.592 + 548.73
Предметные рубрики: физика-- физика твердого тела
химия-- кристаллография
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рентгеновская дифрактометрия--дифрактометрия--рентгеновская топография--топография--дифракция рентгеновских лучей--высокоразрешающая дифрактометрия--дефекты в кристаллах--синхротронное излучение--эпитаксиальные слои--материаловедение--тонкие пленки--рассеяния теория
Экземпляры : всего : ОХФ(2)
Свободны : ОХФ(2)
Найти похожие

3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.382.3/Г 901
Автор(ы) : Груздов, Вадим Владимирович, Колковский, Юрий Владимирович, Концевой, Юлий Абрамович
Заглавие : Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2016
Колич.характеристики :327, [1] с.: ил.
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN (в пер.), Цена 978-5-94836-426-1: 1170.40 р.
УДК : 621.382.3
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): твердотельная электроника--свч-электроника--интеллектуальная собственность--стандарты--свч-транзисторы--полупроводниковые приборы--технологические процессы (тп)--широкозонные материалы--контроль качества--гетероструктуры--электронная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--электронная спектроскопия--рентгеновская дифрактометрия
Экземпляры : всего : ОХФ(2), ОУОЕН(3)
Свободны : ОХФ(2), ОУОЕН(3)
Найти похожие

4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 538.91(043.3)/У 567
Автор(ы) : Умхаева, Зарган Сайпудиновна
Заглавие : "Структурные и магнитные фазовые превращения и сверхтонкие взаимодействия на ядре 57Fe в фазах высокого давления сплавов квазибинарных систем RI1-xRIIxM2 и R(Fe1-xMx)2 (R-РЗЭ, M-3d - МЕТАЛЛ)" : автореферат диссертации на соискание учёной степени доктора физико-математических наук : 01.04.07
Выходные данные : Грозный: [б. и.], 2013
Колич.характеристики :34, [2] с.: рис.
Коллективы : Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Комплексн. науч.-исслед. ин-т РАН, Чечен. гос. ун-т
Примечания : Библиогр.: с. 33-35 (33 назв.)
ISBN, Цена [Б. и.]
УДК : 538.91(043.3) + 544(043.3)
Предметные рубрики: физика-- физика конденсированного состояния
химия-- физическая химия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): фазовые превращения --фазовые диаграммы--структура--редкоземельные элементы--интерметаллиды--сплавы--сверхтонкие взаимодействия--рентгеновская дифрактометрия--мессбауэровская спектроскопия--ядерный магнитный резонанс (ямр)--магнитострикция--синтез
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие

5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 544.35/Т 33
Заглавие : Теоретические и экспериментальные методы химии растворов
Выходные данные : Москва: Проспект, 2011
Колич.характеристики :688 с.: ил.
Коллективы : Ин-т химии растворов РАН
Серия: Проблемы химии растворов
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN (в пер.), Цена 978-5-392-02419-3: 521.00 р.
УДК : 544.35 + 543
Предметные рубрики: химия-- физическая химия-- аналитическая химия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): растворы--химия растворов--компьютерное моделирование--интегральных уравнений метод--жидкости--спектроскопия--рентгеновская дифрактометрия--денситометрия--кондуктометрия--потенциометрия--химическая термодинамика--диссоциация--сольватация--калориметрия--молекулярные комплексы--металлокомплексы
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)