| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :3
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (5)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=растровая электронная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 608080
Автор(ы) : Рид, Стефан Дж. Б.
Заглавие : Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2008
Колич.характеристики :229, [3] с.: ил.
Серия: Мир наук о Земле
Примечания : Библиогр.: с. 205-215. - Предм. указ.: с. 216-219
ISBN, Цена 978-5-94836-177-2 (в пер.): 450.00 р.
ISBN, Цена 0-521-84875-X (англ.): Б.ц.
УДК : 55
Предметные рубрики: геология-- геология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): геология--электронно-зондовый микроанализ--растровая электронная микроскопия
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 945769
Автор(ы) : Чандра А. М., Гош С. К.
Заглавие : Дистанционное зондирование и географические информационные системы : [учебник]
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2008
Колич.характеристики :307, [5] с.: ил., цв. ил
Серия: Мир наук о Земле
ISBN, Цена 978-5-94836-178-9 (в пер.): 500.00 р.
ISBN, Цена 1-84265-278-8 (англ.): Б.ц.
УДК : [528.8:004](075.8)
Предметные рубрики: геодезия.картография-- картография
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): информационные технологии--дистанционное зондирование--геоинформационные системы (гис)--растровая электронная микроскопия--рентгеновская спектроскопия
Экземпляры : всего : ОХФ(2), ОХФ-ЧЗ-4(1), ОУОЕН(44)
Свободны : ОХФ(2), ОХФ-ЧЗ-4(1), ОУОЕН(44)
Найти похожие
3.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 621.382.029.6(082/Г 441-968722
Автор(ы) :
Заглавие : Гетеромагнитная микроэлектроника: сборник научных трудов/ Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского", ОАО "Тантал" ; под ред. А. В. Ляшенко ; редкол.: А. А. Игнатьев (отв. ред.) [и др.]. Вып. 11: Гетеромагнитная микро- и наноэлектроника. Прикладные аспекты. Экономика. Методические аспекты физического образования
Выходные данные : Саратов: Издательство Саратовского университета, 2011
Колич.характеристики :147, [5] с.: граф., ил., табл.
Коллективы : Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского", ОАО "Тантал"
Серия:
Примечания : Библиогр. в конце ст.
ISSN: 1810-9594
Цена : 324.00 р.
УДК : 621.382.029.6(082)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): гетеромагнитная микроэлектроника--электронные приборы--компьютерные технологии--математическое моделирование--днк-анализ--растровая электронная микроскопия--экономика--промышленность
Экземпляры : всего : ОХФ(2), ОУОЕН(3)
Свободны : ОХФ(2), ОУОЕН(3)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)