| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :2
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (2)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=прецизионные средства измерений<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 550805
621.317.745/С 128
Автор(ы) : Савелькаев, Сергей Викторович
Заглавие : Разработка и исследование методов и прецизионных средств измерения S-параметров активных СВЧ-цепей : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.11.15
Выходные данные : Новосибирск: [б. и.], 2006
Колич.характеристики :39, [3] с.: рис., табл.
Коллективы : Сиб. гос. геодез. акад.
Примечания : Библиогр.: с. 36-39 (38 назв.)
ISBN, Цена [Б. и.]
УДК : 621.317.74(043.3)
Предметные рубрики: электротехника-- электроизмерительная техника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): прецизионные средства измерений--средства измерений--измерения параметров--s-параметры--свч-цепи--анализаторы--свч-устройства
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 454840
Автор(ы) : Лич, Ричард К.
Заглавие : Инженерные основы измерений нанометровой точности : учеб. пособие
Выходные данные : Долгопрудный: Издательский дом "Интеллект", 2012
Колич.характеристики :400 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 390-393 (55 назв.)
ISBN (в пер.), Цена 978-5-91559-119-5: 1246.30, 1589.00, р.
УДК : 621.38-022.532:006.91(075.8)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- полупроводниковая электроника
метрология.стандартизация-- метрология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии--инженерная метрология--нанометрология--прецизионные средства измерений--интерферометрия--метрология поверхностей--сканирующая зондовая микроскопия--сканирующая электронная микроскопия--координатная метрология--измерения массы--измерения силы
Экземпляры : всего : ОХФ(3), ОУОЕН(29)
Свободны : ОХФ(3), ОУОЕН(29)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)