| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :8
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (17)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=оптическая микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 535965
681.4/Д95
Автор(ы) : Дюков, Валентин Георгиевич, Кудеяров, Юрий Алексеевич
Заглавие : Растровая оптическая микроскопия
Выходные данные : Москва: Наука, 1992
Колич.характеристики :208 с.: ил.
Серия: Современные физико-технические проблемы
Примечания : Библиогр.
ISBN, Цена 5-02-014374-X: 42.00 р.
УДК : 681.723.2
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы--оптическая микроскопия--растровые оптические микроскопы
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 593221
621.385.833681.4/М 641
Автор(ы) : Миронов В. Л.
Заглавие : Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2004
Колич.характеристики :143, [1] с.: цв.ил
Коллективы : Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород
Серия: Мир физики и техники
Примечания : Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.)
ISBN (в пер.), Цена 5-94836-034-2: 153.32, 153.89, р.
УДК : 621.385.833(075.8) + 681.723.2(075.8)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия--микроскопы--сканирующая туннельная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--оптическая микроскопия
Экземпляры : всего : ОУОЕН(12), ОХФ-ЧЗ-4(1), ОХФ(2)
Свободны : ОУОЕН(12), ОХФ-ЧЗ-4(1), ОХФ(2)
Найти похожие

3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 112921
620.22/Б 874
Автор(ы) : Брандон Д., Каплан У.
Заглавие : Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2004
Колич.характеристики :377, [7] с.: ил.
Серия: Мир материалов и технологий
Примечания : Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377
ISBN, Цена 5-94836-018-0 (в пер.): 191.88 р.
ISBN, Цена 0 471 98501 5 (англ.): Б.ц.
УДК : [620.22:539.2](075.8)
Предметные рубрики: техника-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--микроструктуры--оптическая микроскопия--электронная микроскопия--микроанализ--химический анализ
Экземпляры : всего : ОУОЕН(22), ОХФ(1), ОХФ-ЧЗ-4(2)
Свободны : ОУОЕН(22), ОХФ(1), ОХФ-ЧЗ-4(2)
Найти похожие

4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 102320
621.385.833681.4/М 641
Автор(ы) : Миронов В. Л.
Заглавие : Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2005
Колич.характеристики :143, [1] с.: ил.
Коллективы : Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород
Серия: Мир физики и техники
Примечания : Библиогр.: с. 140-143
ISBN (в пер.), Цена 5-94836-034-2: 167.00 р.
УДК : 621.385.833(075.8) + 681.723.2(075.8)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующая зондовая микроскопия--микроскопы--сканирующая туннельная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--оптическая микроскопия
Экземпляры : всего : ОХФ(3)
Свободны : ОХФ(3)
Найти похожие

5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 429577
Автор(ы) : Kaupp, Gerd
Заглавие : Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Electronic resource]
Выходные данные : Berlin; Heidelberg: Springer, 2006?
Колич.характеристики :1 эл. опт. диск (CD-ROM)
Серия: NanoScience and Technology .
    Springer eBook Collection
Вид и объем ресурса: Электрон. текстовые дан.
ISBN (в кор.), Цена 9783540284727: 630.00 р.
УДК : 621.385.833(0.034.4) + 681.723.2(0.034.4)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электронные приборы
техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопы--атомно-силовая микроскопия(асм)--сканирующая туннельная микроскопия--оптическая микроскопия--нанотехнологии--наноцарапины
Экземпляры :ОХФ-МЕДИАЗАЛ(1)
Свободны : ОХФ-МЕДИАЗАЛ(1)
Найти похожие

6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 296450
Заглавие : Методы и средства микроскопии : метод. указания
Выходные данные : Екатеринбург: Изд-во УМЦ УПИ, 2005
Колич.характеристики :187, [1] с.: ил.
Коллективы : ГОУ ВПО "Уральский государственный технический университет - УПИ"
Примечания : Библиогр.: с. 186-187 (25 назв.)
ISBN, Цена [Б. и.]: 65.00 р.
УДК : 681.723.2(072.8) + 620.22(072.8)
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы-- материаловедение
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопия--микроскопы--оптическая микроскопия--электронная микроскопия--зондовая микроскопия --обработка изображений--наночастицы--биологические объекты
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие

7.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 577.32(075.8)/С 324
Автор(ы) : Сердюк, Игорь
Заглавие : Методы в молекулярной биофизике. Структура. Функция. Динамика: учебное пособие : в 2 т./ И. Сердюк, Н. Заккаи, Дж. Заккаи ; [науч. ред. И. Сердюк]. Т. 2
Выходные данные : Москва: КДУ: Благотворительный фонд "Вольное дело": Компания "Базовый элемент", 2010
Колич.характеристики :734, [2] с.: цв. ил
Серия:
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN (в пер.), Цена 978-5-98227-454-0: 1339.00 р.
УДК : 577.32(075.8)
Предметные рубрики: биология-- биофизика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): молекулярная биофизика--биологические макромолекулы--молекулярная биология--оптическая микроскопия--рентгеновская дифракция--нейтронная дифракция--электронная дифракция--спектроскопия--молекулярная динамика--ядерный магнитный резонанс (ямр)
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие

8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : [681.723:620.3](0/С 74-313032189
Заглавие : Справочник по микроскопии для нанотехнологии : пер. с англ.
Параллельн. заглавия :Handbook of microscopy for nanotechnology
Выходные данные : Москва: Научный мир, 2011
Колич.характеристики :712 с.: ил.
Коллективы : Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники/ гл. ред. А.Р. Хохлов
Примечания : Библиогр. в конце ст.
ISBN (в пер.), Цена 978-5-91522-232-7: 600.00 р.
УДК : [681.723:620.3](035)
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопия--оптическая микроскопия--сканирующая туннельная микроскопия--атомно-силовая микроскопия(асм)--сканирующая зондовая микроскопия--масс-спектрометрия--атомно-зондовая томография--электронно-лучевая литография--электронная микроскопия--электронная нанокристаллография--электронная голография--нанотехнологии--наноразмерные материалы--наноизмерения
Экземпляры :ОХФ-СБО(1)
Свободны : ОХФ-СБО(1)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)